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1. WO2000029951 - CONTROLE DES CRITERES DE MEMORISATION D'UN ANALYSEUR LOGIQUE A PARTIR DU CODE DE PROGRAMME

Numéro de publication WO/2000/029951
Date de publication 25.05.2000
N° de la demande internationale PCT/US1999/027131
Date du dépôt international 15.11.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 06.06.2000
CIB
G01R 31/3177 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3177Tests de fonctionnement logique, p.ex. au moyen d'analyseurs logiques
G01R 31/3193 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
3193avec une comparaison entre la réponse effective et la réponse connue en l'absence d'erreur
CPC
G01R 31/3177
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
G01R 31/31935
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31935Storing data, e.g. failure memory
Déposants
  • SUN MICROSYSTEMS, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • WILLIAMS, Emrys, J.
Mandataires
  • PARK, A., Richard
Données relatives à la priorité
09/193,99617.11.1998US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING LOGIC ANALYZER STORAGE CRITERIA FROM WITHIN PROGRAM CODE
(FR) CONTROLE DES CRITERES DE MEMORISATION D'UN ANALYSEUR LOGIQUE A PARTIR DU CODE DE PROGRAMME
Abrégé
(EN)
A system that allows a programmer to insert instructions into a computer program that change criteria used by a logic analyzer to gather data. This criteria may include, a qualifier, which is used to filter data gathered by the logic analyzer, or a trigger condition that is used by the logic analyzer to decide when to take a snapshot of the data. This system opetates by configuring the logic analyzer to change its criterion for recording data when an instruction in the computer program is executed that communicates with the logic analyzer. The system additionally provides special programming language instructions, which communicate with the logic analyzer. By inserting the special instructions into a computer program, a programmer can select the criterion that the logic analyzer uses to gather date at key points in a computer program. This allows the programmer to specify how data is to be collected by the logic analyzer in different sections of code. Using this technique, a programmer can greatly reduce the amount of unnecesary data that is collected by the logic analyzer, and can thereby make better use of the limited data storage space available within the logic analyzer.
(FR)
L'invention concerne un système permettant à un programmateur d'insérer des instructions dans un programme informatique pour modifier les critères utilisés par un analyseur logique pour rassembler des données. Ces critères peuvent comprendre un qualificatif, qui est utilisé pour filtrer les données rassemblées par l'analyseur logique, ou une condition de déclenchement qui est utilisée par l'analyseur logique pour décider du moment où effectuer un traçage sélectif des données. Ce système fonctionne en configurant l'analyseur logique pour changer ses critères pour l'enregistrement des données lorsqu'une instruction dans le programme informatique est exécutée qui communique avec l'analyseur logique. Ce système fournit également des instructions de langage de programmation spéciales qui communiquent avec l'analyseur logique. En insérant ces instructions spéciales dans un programme, un programmateur peut sélectionner le critère que l'analyseur logique utilise pour rassembler les données en points clés dans un programme informatique. Cela permet au programmateur de spécifier comment les données doivent être collectées par l'analyseur logique dans des sections de code différentes. A l'aide de cette technique, un programmateur peut fortement réduire la quantité de données inutiles collectées par l'analyseur logique, et peut ainsi mieux utiliser l'espace limité de mémorisation de données disponible dans l'analyseur logique.
Également publié en tant que
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