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1. (WO2000017909) SYSTEME OPTIQUE IONIQUE POUR SPECTROMETRE DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/017909    N° de la demande internationale :    PCT/AU1999/000766
Date de publication : 30.03.2000 Date de dépôt international : 14.09.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.04.2000    
CIB :
H01J 49/04 (2006.01)
Déposants : VARIAN AUSTRALIA PTY LTD [AU/AU]; 679 Springvale Road, Mulgrave, VIC 3170 (AU) (Tous Sauf US).
KALINITCHENKO, Iouri [AU/AU]; (AU) (US Seulement)
Inventeurs : KALINITCHENKO, Iouri; (AU)
Mandataire : PHILLIPS ORMONDE & FITZPATRICK; 367 Collins Street, Melbourne, VIC 3000 (AU)
Données relatives à la priorité :
PP 6105 23.09.1998 AU
PP 9672 12.04.1999 AU
Titre (EN) ION OPTICAL SYSTEM FOR A MASS SPECTROMETER
(FR) SYSTEME OPTIQUE IONIQUE POUR SPECTROMETRE DE MASSE
Abrégé : front page image
(EN)A mass spectrometer having an ion reflecting instead of ion transmissive optics system. The spectrometer includes an ion source (16) for providing a beam of sample particles including ions along an axis (24). Its ion optics system (34-46) establishes a reflecting electrostatic field for reflecting ions along a path (30) from the particle beam and focussing them at an entrance aperture (26) of a mass analyser (25) and ion detector (27) for spectrometric analysis. The invention allows more efficient separation of ions from neutral particles, gives better signal to noise ratios and allows for a compact 'optical' path and thus cheaper instrument to be manufacctured. The reflecting electrostatic field can also be used to filter higher energy ions from lower energy ions. An ion optical system as such is also disclosed.
(FR)L'invention concerne un spectromètre de masse possédant un système optique à réflexion ionique au lieu d'un système optique à transmission ionique. Le spectromètre comprend une source d'ions (16) qui génère un faisceau de particules échantillon formé d'ions et dirigé suivant un certain axe (24). Son système optique ionique (34-46) génère un champ électrostatique réflecteur, qui réfléchit les ions suivant un certain trajet (30) à partir du faisceau de particules et les concentre sur un orifice d'entrée (26) d'un analyseur de masse (25) et d'un détecteur d'ions (27) en vue de l'analyse spectrométrique. L'invention permet de séparer plus efficacement les ions des particules neutres, améliore le rapport signal sur bruit et permet d'obtenir un trajet 'optique' plus compact, ce qui diminue le coût de l'instrument. Le champ électrostatique réflecteur peut également être utilisé pour séparer par filtrage les ions de haute énergie des ions d'énergie plus faible. L'invention concerne également le système optique ionique lui-même.
États désignés : AU, CA, JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (DE, FR, GB).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)