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1. (WO2000011483) TECHNIQUE D'ESSAI D'EMISSIONS ELECTROMAGNETIQUES ET APPAREIL AFFERENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/011483    N° de la demande internationale :    PCT/GB1999/002768
Date de publication : 02.03.2000 Date de dépôt international : 23.08.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    14.01.2000    
CIB :
G01R 29/08 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01)
Déposants : BRITISH TELECOMMUNICATIONS PUBLIC LIMITED COMPANY [GB/GB]; 81 Newgate Street London EC1A 7AJ (GB) (Tous Sauf US).
CARPENTER, Darren, James [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : CARPENTER, Darren, James; (GB)
Mandataire : BRADLEY, David, William; BT Group Legal Services Intellectual Property Dept. 8th floor, Holborn Centre 120 Holborn London EC1N 2TE (GB)
Données relatives à la priorité :
98306754.7 24.08.1998 EP
9820838.2 24.09.1998 GB
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR ELECTROMAGNETIC EMISSIONS TESTING
(FR) TECHNIQUE D'ESSAI D'EMISSIONS ELECTROMAGNETIQUES ET APPAREIL AFFERENT
Abrégé : front page image
(EN)The likelihood of a system complying with EMC regulations is determined for a system comprised equipment units which individually radiate electromagnetic emissions. The intensity contribution of the electric field from each of the equipment units is calculated and a phase difference is randomly assigned to each of the components repeatedly in order to generate distribution of electric field values between a minimum possible electric field value and a maximum possible electric field value. This distribution is then statistically analysed to determine a compliance probability.
(FR)Cette invention porte sur l'établissement de la vraisemblance selon laquelle un système, en l'occurrence un système constitué d'éléments rayonnant individuellement des émissions électromagnétiques, se conforme au règles de compatibilité électromagnétique (CEM). On calcule quelle est la contribution, en matière d'intensité du champ électrique, apportée par chacun des éléments du système et on leur attribue, de façon aléatoire et répétitive, une valeur de différence de phase afin de produire des valeurs de distribution de champ électrique s'échelonnant entre une valeur minimale et une valeur maximale possibles de champ électrique. On analyse ensuite par méthode statistique cette distribution afin d'établir les probabilités de conformité.
États désignés : CA, GB, US, ZA.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)