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1. WO2000008453 - CHARGEUSE D'ECHANTILLONS, SOURCE D'IONS ET ANALYSEUR DE MASSE AVEC LESQUELS ON UTILISE LA CHARGEUSE

Numéro de publication WO/2000/008453
Date de publication 17.02.2000
N° de la demande internationale PCT/JP1998/003502
Date du dépôt international 06.08.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 06.08.1998
CIB
B01F 5/04 2006.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
FMÉLANGE, p.ex. DISSOLUTION, ÉMULSION, DISPERSION
5Mélangeurs à écoulement; Mélangeurs pour matériaux tombants, p.ex. particules solides
04Mélangeurs à injecteurs
B01F 13/00 2006.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
FMÉLANGE, p.ex. DISSOLUTION, ÉMULSION, DISPERSION
13Autres mélangeurs; Installations pour effectuer des mélanges comportant des combinaisons de mélangeurs de types différents
B01L 3/00 2006.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
LAPPAREILS DE LABORATOIRE POUR LA CHIMIE OU LA PHYSIQUE, À USAGE GÉNÉRAL
3Récipients ou ustensiles pour laboratoires, p.ex. verrerie de laboratoire; Compte-gouttes
G01N 1/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
G01N 35/08 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
08en utilisant un courant d'échantillons discrets circulant dans une canalisation, p.ex. analyse à injection dans un écoulement
H01J 49/04 2006.1
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
04Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
CPC
B01F 25/312
B01F 33/30
B01L 3/5027
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
3Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware
50Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
502with fluid transport, e.g. in multi-compartment structures
5027by integrated microfluidic structures, i.e. dimensions of channels and chambers are such that surface tension forces are important, e.g. lab-on-a-chip
G01N 35/085
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
08using a stream of discrete samples flowing along a tube system, e.g. flow injection analysis
085Flow Injection Analysis
H01J 49/04
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
Déposants
  • HITACHI, LTD. [JP]/[JP] (AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CU, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GE, GH, GM, GN, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IS, IT, JP, KE, KG, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, NE, NL, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZW)
  • HIRABAYASHI, Yukiko [JP]/[JP] (UsOnly)
  • HIRABAYASHI, Atsumu [JP]/[JP] (UsOnly)
  • OKUMURA, Akihiko [JP]/[JP] (UsOnly)
  • KOIZUMI, Hideaki [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • HIRABAYASHI, Yukiko
  • HIRABAYASHI, Atsumu
  • OKUMURA, Akihiko
  • KOIZUMI, Hideaki
Mandataires
  • TAKAHASHI, Akio
Données relatives à la priorité
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SAMPLE FEEDER, AND ION SOURCE AND MASS ANALYZER WHEREIN THE FEEDER IS USED
(FR) CHARGEUSE D'ECHANTILLONS, SOURCE D'IONS ET ANALYSEUR DE MASSE AVEC LESQUELS ON UTILISE LA CHARGEUSE
Abrégé
(EN) A sample feeder capable of preventing contamination and improving throughput of analysis and including a reservoir (1) for storing a mobile phase solution, connected to one of the ends of a flow passage (2), and a sample charging port (3) disposed at an intermediate portion of the flow passage (2), so as to feed the mobile phase solution flowing out of the other end of the flow passage (2) and a sample into a mass analyzer (16), wherein the pressure on the other end side of the flow passage (2) is regulated to be lower than the pressure on the side of one of the ends of the flow passage (2) so that the mobile phase solution inside the reservoir (1) is sucked and flows into the flow passage (2) due to this pressure difference and the sample charged from the sample charging port (3) is transported to the other end side of the flow passage (2), is atomized there by a high velocity gas flow, and is atomized and ionized.
(FR) Une chargeuse d'échantillons capable d'empêcher la contamination et d'améliorer la vitesse de l'analyse comprend un réservoir (1) destiné à contenir et à garder une solution à phase mobile, qui est relié à une des extrémités d'un passage (2) d'écoulement, et un accès (3) de chargement des échantillons situé au niveau d'une partie intermédiaire du passage (2) d'écoulement, de manière à distribuer la solution à phase mobile qui s'écoule et sort de l'autre côté du passage (2) d'écoulement, et un échantillon à l'intérieur d'un analyseur de masse (16). Dans ce système, la pression est régulée pour être inférieure à la pression existant du côté d'une des extrémités du passage (2) d'écoulement pour que la solution à phase mobile présente dans le réservoir (1) soit aspirée et s'écoule dans le passage (2) d'écoulement sous l'effet de la différence de pression et que l'échantillon introduit par l'accès (3) de chargement d'échantillons soit transporté jusqu'à l'autre côté d'extrémité du passage (2) d'écoulement, soit atomisé à ce niveau par un écoulement de gaz à grande vitesse, puis atomisé et ionisé.
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