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1. WO1999004327 - SYSTEME SYNCHRONE DE TEST DE MEMOIRE

Numéro de publication WO/1999/004327
Date de publication 28.01.1999
N° de la demande internationale PCT/US1998/014551
Date du dépôt international 14.07.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 10.02.1999
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
G11C 29/02 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
02Détection ou localisation de circuits auxiliaires défectueux, p.ex. compteurs de rafraîchissement défectueux
G11C 29/10 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension ou test réparti
10Algorithmes de test, p.ex. algorithmes par balayage de mémoire ; Configurations de test, p.ex. configurations en damier
G11C 29/44 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension ou test réparti
12Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré
44Indication ou identification d'erreurs, p.ex. pour la réparation
G11C 29/50 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
50Test marginal, p.ex. test de vitesse, de tension ou de courant
G11C 29/56 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
56Équipements externes pour test de mémoires statiques, p.ex. équipement de test automatique ; Interfaces correspondantes
CPC
G01R 31/31908
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
G01R 31/31914
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31914Portable Testers
G01R 31/31915
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31915In-circuit Testers
G11C 11/401
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
11Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
21using electric elements
34using semiconductor devices
40using transistors
401forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
G11C 2029/5002
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
5002Characteristic
G11C 2029/5004
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
5004Voltage
Déposants
  • TANISYS TECHNOLOGY, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • LAWRENCE, Archer, R.
  • LITTLE, Jack, C.
Mandataires
  • HOLLAND, Robert, W.
Données relatives à la priorité
08/895,30716.07.1997US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYNCHRONOUS MEMORY TEST SYSTEM
(FR) SYSTEME SYNCHRONE DE TEST DE MEMOIRE
Abrégé
(EN)
An automated, portable, and time conservative memory test system for identifying test parameters including type, control line configuration, depth, width, access time, and burst features of any one of a wide variety of synchronous memories including SDRAMs and SGRAMs, and whether an IC chip, bank, board or module, without requiring hardware, modifications or additions to the memory device being identified, and without requiring storage of test patterns or characterizing data in the memory device. The tester is comprised of a 32-bit RISC CPU (80) in electrical communication with address/data/control bus (82) and with processor clock (84) which provides timing for the CPU. ROM (90) provides a non-volatile storage for all memory test system operating software programs, and RAM (93) provides temporary and intermediate storage for software programs.
(FR)
La présente invention concerne un système de test de mémoire à conservation de temps, portable et automatique, capable d'identifier des paramètres de test notamment de type, de configuration de ligne de commande, de profondeur, de largeur, d'heure d'accès et des caractéristiques des rafales de l'un quelconque des nombreux types de mémoires synchrones, notamment les SDRAM et SGRAM et permettant de savoir si on a affaire à une puce, une banque, une carte ou un module de circuits intégrés. Ce dispositif ne nécessite aucune modification de matériel ou adjonction au dispositif de mémoire en cours d'identification. Ce système ne nécessite pas non plus de stockage de structure de tests ou de données de caractérisation dans la mémoire.
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international