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1. WO1999002940 - DISPOSITIF POUR LA MESURE DE PROFILS TRANSVERSAUX DE PROPRIETES DEFINIES D'UNE BANDE DE MATERIAU CONTINUE, EN PARTICULIER D'UNE BANDE DE PAPIER OU DE CARTON

Numéro de publication WO/1999/002940
Date de publication 21.01.1999
N° de la demande internationale PCT/DE1998/001873
Date du dépôt international 07.07.1998
CIB
D21G 9/00 2006.01
DTEXTILES; PAPIER
21FABRICATION DU PAPIER; PRODUCTION DE LA CELLULOSE
GCALANDRES; ACCESSOIRES POUR MACHINES À FABRIQUER LE PAPIER
9Autres accessoires pour machines à fabriquer le papier
G01N 21/89 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
CPC
D21G 9/0009
DTEXTILES; PAPER
21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
GCALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
9Other accessories for paper-making machines
0009Paper-making control systems
G01N 21/8903
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
8901Optical details; Scanning details
8903using a multiple detector array
Déposants
  • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE]/[DE] (AT, BE, CA, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
  • HARTENSTEIN, Hermann [DE]/[DE] (UsOnly)
  • LAMPE, Uwe [DE]/[DE] (UsOnly)
  • ROTH, Christoph [DE]/[DE] (UsOnly)
Inventeurs
  • HARTENSTEIN, Hermann
  • LAMPE, Uwe
  • ROTH, Christoph
Données relatives à la priorité
197 29 005.107.07.1997DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON QUERPROFILEN BESTIMMTER EIGENSCHAFTEN EINER LAUFENDEN MATERIALBAHN, INSBESONDERE AUS PAPIER ODER PAPPE
(EN) DEVICE FOR MEASURING CROSS-SECTIONS OF SPECIFIC PROPERTIES OF A CONTINUOUS MATERIAL WEB, IN PARTICULAR PAPER OR CARDBOARD
(FR) DISPOSITIF POUR LA MESURE DE PROFILS TRANSVERSAUX DE PROPRIETES DEFINIES D'UNE BANDE DE MATERIAU CONTINUE, EN PARTICULIER D'UNE BANDE DE PAPIER OU DE CARTON
Abrégé
(DE)
Bei einer Vorrichtung zur Messung von Querprofilen bestimmter Eigenschaften einer laufenden Materialbahn sind Sensoren zur Erfassung von Meßwerten mit einem die laufende Papierbahn in lateraler Richtung überspannenden Meßrahmen verbunden. Erfindungsgemäß wird aus einer Vielzahl von Sensoren (10, 10',...; 201, 201'), die fest am Meßrahmen (200) angebracht sind, ein Sensorarray (210) gebildet, und ist der Meßrahmen (200) in einem lateral gegenüber seiner Ausdehnung vergleichsweise geringen Bereich auslenkbar, so daß die Zahl der Meßpunkte des Querprofils der zu bestimmenden Eigenschaften pro Sensor (10, 201) erhöht ist.
(EN)
The invention relates to a device for measuring cross-sections of specific properties of a continuous material web. Said device is characterized in that sensors for detecting measured values are connected to a measuring frame which covers the continuous paper web in lateral direction. A plurality of sensors (10, 10'...; 201, 201'), forming a sensor array (210), is fixed to the measuring frame (200). The measuring frame (200) can be displaced laterally in relation to its length across a relatively small range. This increases the number of measuring points per sensor (10, 201) used to measure the cross-section of the properties that are to be determined.
(FR)
L'invention concerne un dispositif pour la mesure de profils transversaux de propriétés définies d'une bande de matériau continue, dispositif dans lequel des détecteurs destinés à enregistrer des valeurs de mesure sont reliés à un cadre de mesure recouvrant la bande de papier continue dans le sens latéral. Selon l'invention, un grand nombre de détecteurs (10, 10', ... 201, 201') fixés au cadre de mesure (200) constituent un réseau de détecteurs (210); on peut déplacer le cadre de mesure (200) dans une plage relativement faible latéralement par rapport à l'étendue du cadre de façon à augmenter le nombre des points de mesure du profil transversal des propriétés à déterminer par détecteur (10, 201).
Également publié en tant que
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