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1. WO1997030336 - PROCEDE DE MESURE D'UN PROFIL DE DENSITE

Numéro de publication WO/1997/030336
Date de publication 21.08.1997
N° de la demande internationale PCT/DK1997/000070
Date du dépôt international 14.02.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 10.09.1997
CIB
G01N 9/24 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
9Recherche du poids spécifique ou de la densité des matériaux; Analyse des matériaux en déterminant le poids spécifique ou la densité
24en observant la propagation de l'onde ou de la radiation des particules à travers le matériau
G01N 23/16 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
02en transmettant la radiation à travers le matériau
06et mesurant l'absorption
16le matériau étant une feuille ou un film en mouvement
CPC
G01N 23/083
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
06and measuring the absorption
083the radiation being X-rays
G01N 23/16
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
06and measuring the absorption
16the material being a moving sheet or film
G01N 9/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
9Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
24by observing the transmission of wave or particle radiation through the material
Déposants
  • WESSER & DUEHOLM [DK]/[DK] (AllExceptUS)
  • TELLER, Steen [DK]/[DK] (UsOnly)
Inventeurs
  • TELLER, Steen
Mandataires
  • CHAS. HUDE A/S
Données relatives à la priorité
0151/9614.02.1996DK
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) A METHOD OF DETERMINING THE DENSITY PROFILE
(FR) PROCEDE DE MESURE D'UN PROFIL DE DENSITE
Abrégé
(EN) A method of determining the density profile of a plate-shaped material M, the density of which varies discretely or continuously across the plate thickness, whereas the density at a specific depth of the plate M is preferably assumed to be constant. The inventive method employs X-rays or $g(g)-rays from a source K. The latter source K is placed on one side of the plate M, whereas at least two detectors T, F are arranged on the opposite side of the endless plate being advanced during the measuring in the longitudinal direction. A first detector T is preferably placed in the radiating direction of the source and measures the transmittent radiation through the plate M, and the second detector F is placed outside the radiating direction of the source K and measures the scattered radiation on partial volumes along the radiating direction of the source. Based on the signals measured by the detectors it is possible to measure the density in each individual partial volume. According to the invention a compensation has furthermore been carried out for multiple scattered radiation by the measured radiation being deducted from the multiple scattered radiation.
(FR) L'invention porte sur un procédé de mesure du profil de densité d'un matériau en plaque M dont la densité varie par échelons ou régulièrement dans l'épaisseur, la densité à une profondeur donnée de la plaque M étant de préférence réputée constante. Ledit procédé recourt à des rayons X ou $g(g) émis par une source K placée d'un côté de la plaque M alors qu'au moins deux détecteurs T et F sont disposés du côté opposé de la plaque sans fin qui progresse pendant la mesure dans le sens longitudinal. Le premier détecteur T, de préférence placé dans la direction d'émission de la source, mesure le rayonnement traversant la plaque M, et le second détecteur F, placé hors de la direction d'émission de la source K, mesure le rayonnement diffusé par les différents volumes partiels jalonnant la direction d'émission. Il est possible de déterminer la densité de chacun des différents volumes partiels à partir des mesures effectuées par les détecteurs. L'invention prévoit de plus une compensation des rayonnements à diffusion multiple consistant à déduire le rayonnement mesuré du rayonnement à diffusion multiple.
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