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1. (WO1992016819) JAUGE DE CORRECTION A ALLIAGE DYNAMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1992/016819    N° de la demande internationale :    PCT/GB1992/000448
Date de publication : 01.10.1992 Date de dépôt international : 12.03.1992
CIB :
G01B 11/06 (2006.01), G01B 15/02 (2006.01)
Déposants : DATA MEASUREMENT CORPORATION [US/US]; 15884 Gaither Drive, Gaithersburg, MD 20877 (US) (Tous Sauf US).
DMC BOYLE (UK) LIMITED [GB/GB]; Burch Road, North Fleet, Kent DA11 9NE (GB) (Tous Sauf US).
GIGNOUX, Dominique [US/US]; (US) (US Seulement).
GOUEL, Roland, Michel [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GIGNOUX, Dominique; (US).
GOUEL, Roland, Michel; (US)
Mandataire : JENSEN & SON; 70 Paul Street, London EC2A 4NA (GB)
Données relatives à la priorité :
9105639.0 18.03.1991 GB
Titre (EN) DYNAMIC ALLOY CORRECTION GAUGE
(FR) JAUGE DE CORRECTION A ALLIAGE DYNAMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method of calculating the thickness of a sheet material comprising directing a beam of photons against the sheet material from a photon source (1) located on one side of said sheet material (7), detecting reflected radiation from said sheet material in a first detector (2) located on the same side of said sheet material and detecting transmitted radiation in a second detector (5) located on the opposite side of the said sheet material, combining the signals of transmitted and reflected photon beams, measuring and processing the data from both detectors for a number of calibrating samples, obtaining the thickness as a function of the detected data and applying this function to determine the unknown thickness of a sample. Apparatus for carrying out the method of the invention is also disclosed.
(FR)On décrit une méthode de calcul de l'épaisseur d'un matériau en feuille selon laquelle une source de photons (1) située d'un côté de la feuille (7) est utilisée pour envoyer un faisceau de photons contre celle-ci. Dans un premier détecteur (2) situé du même côté que la feuille on détecte les radiations réfléchies par celle-ci, et dans un deuxième détecteur (5) situé de l'autre côté de ladite feuille on détecte les radiations transmises. On combine les signaux des faisceaux de photons transmis et réfléchis; ensuite, les informations provenant des deux détecteurs sont mésurées et traitées pour un certain nombre d'échantillons d'étalonnage. On détermine l'épaisseur en fonction des informations reçues et cette fonction est utilisée pour déterminer l'épaisseur d'un échantillon. Des appareils pour la mise en ÷uvre de la méthode sont également décrits.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, MC, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)