(DE) Bei einer Schaltung und einem Verfahren zum Messen einer die Kapazitäts-Spannungs-Charakteristik eines kapazitiven Elementes beeinflussenden Größe wird die Meßgenauigkeit und das Signal-Störspannungs-Verhältnis dadurch verbessert, daß die Größe aus der Fläche unter der Kurve der Kapazitäts-Spannungs-Charakteristik ermittelt wird.
(EN) In a circuit and process for measuring a value affecting the capacitance-voltage characteristic of a capacitive component, the accuracy of measurement and the signal-to-noise ratio are improved by finding the value from the area beneath the capacitance-voltage characteristic curve.
(FR) Dans le cas d'un circuit et d'un procédé pour mesurer la grandeur influençant la caractéristique de tension capacité d'un élément capacitif, la précision de mesure et le rapport de la tension perturbatrice du signal sont améliorés en déterminant ladite grandeur à partir de la superficie en dessous de la courbe de la caractéristique de tension capacité.