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1. WO1989005088 - PROCEDE ET APPAREIL POUR TESTER DES CARTES DE CIRCUITS

Numéro de publication WO/1989/005088
Date de publication 01.06.1989
N° de la demande internationale PCT/SE1988/000610
Date du dépôt international 15.11.1988
CIB
G01R 1/073 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
H05K 13/08 2006.01
HÉLECTRICITÉ
05TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
KCIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
13Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication ou l'ajustage d'ensembles de composants électriques
08Contrôle de la fabrication des ensembles
CPC
G01R 1/07335
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
07328for testing printed circuit boards
07335for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
Déposants
  • STRANDBERG, Reinhold [SE]/[SE]
Inventeurs
  • STRANDBERG, Reinhold
Mandataires
  • BJERKÉN, Jarl, Håkan
Données relatives à la priorité
8704468-116.11.1987SE
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt suédois (SV)
États désignés
Titre
(EN) A METHOD FOR TESTING CIRCUIT CARDS AND AN APPARATUS FOR CARRYING OUT TESTING
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR TESTER DES CARTES DE CIRCUITS
Abrégé
(EN)
A method and an apparatus for testing circuit cards (1) are based on the use of holders (5, 6), which are movable towards and away from each other and which comprise contact members (10, 13) for engagement with electrically conducting places on the circuit card from opposite sides thereof. The holders (5, 6) comprise guide rods (16, 17) adapted to engage with guide holes (14, 15) in the circuit card from opposite sides thereof. The guide holes (14) for the guide rods (16) on the first holder (5) are accurately positioned relative to the contact members on this first holder and the same applies for the mutual positioning of the guide rods (17) and the contact members (13) on the second holder (6). At least one holder (5) is movable transversely relative to the direction of movement of the holders towards and away from each other to compensate for possible misalignment (e) between at least one of the holders and the circuit card.
(FR)
Un procédé et un appareil pour tester des cartes de circuits (1) font appel à des supports (5, 6), lesquels se rapprochent et s'écartent et comportent des éléments de contact (10, 13) destinés à venir en contact avec des points électriquement conducteurs sur la carte de circuits depuis des côtés opposés de celle-ci. Les supports (5, 6) comprennent des tiges de guidage (16, 17) aptes à s'engager dans des trous de guidage (14, 15) de la carte de circuits depuis des côtés opposés de celle-ci. Les trous de guidage (14) destinés aux tiges de guidage (16) sur le premier support (5) sont positionnés avec précision par rapport aux éléments de contact sur ce premier support et il en va de même pour le positionnement mutuel des tiges de guidage (17) et des éléments de contact (13) sur le second support (6). Au moins un support (5) est déplaçable transversalement par rapport au sens de déplacement des supports en direction et à l'opposé l'un de l'autre afin de compenser un éventuel désalignement (e) entre au moins un des supports et la carte de circuits.
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