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1. WO1987004542 - AMELIORATIONS RELATIVES A DES CIRCUITS INTEGRES A L'ECHELLE D'UNE TRANCHE

Numéro de publication WO/1987/004542
Date de publication 30.07.1987
N° de la demande internationale PCT/GB1987/000047
Date du dépôt international 27.01.1987
CIB
G11C 29/00 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
CPC
G11C 29/006
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
006at wafer scale level, i.e. WSI
Déposants
  • ANAMARTIC LIMITED [GB]/[GB] (AllExceptUS)
  • WESTMORE, Richard, J. [GB]/[US] (UsOnly)
  • DUNN, Timothy [GB]/[GB] (UsOnly)
Inventeurs
  • WESTMORE, Richard, J.
  • DUNN, Timothy
Mandataires
  • REDDIE & GROSE
Données relatives à la priorité
860202028.01.1986GB
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) IMPROVEMENTS RELATING TO WAFER SCALE INTEGRATED CIRCUITS
(FR) AMELIORATIONS RELATIVES A DES CIRCUITS INTEGRES A L'ECHELLE D'UNE TRANCHE
Abrégé
(EN)
A wafer (12) with an array of modules (13) which can be linked into a chain of modules utilizing switching circuits in the modules themselves and using a reiterated test and growth procedure whereby modules are added one by one, avoiding defective modules. Algorithms are disclosed which enable the chain to be grown from a start module (14) to a target module (15), hugging a confining boundary, such as the edge of the wafer or an already grown part of the chain, and scouting round defective modules. Other algorithms enable a chain to be grown from a start module to a target module around an area on the wafer such as a cluster of defective modules.
(FR)
Une tranche (12) est pourvue d'un réseau de modules (13) pouvant être reliés de manière à former une chaîne de modules en utilisant des circuits de commutation dans les modules eux-mêmes ainsi qu'un mode opératoire itératif de test et de croissance, au cours duquel on ajoute les modules un à un, ce qui permet d'éviter les modules défectueux. On décrit des algorithmes permettant d'agrandir la chaîne à partir d'un module de départ (14) jusqu'à un module-cible (15), en suivant de près une frontière de délimitation, telle que le bord de la tranche ou une partie de la chaîne déjà constituée, tout en contournant les modules défectueux. D'autres algorithmes permettent d'agrandir une chaîne depuis un module de départ jusqu'à un module-cible autour d'une zone de la tranche composée d'un ensemble de modules défectueux.
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