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1. WO1983003141 - APPAREIL DE TEST UTILISANT UN LIT A POINTE

Numéro de publication WO/1983/003141
Date de publication 15.09.1983
N° de la demande internationale PCT/US1982/000269
Date du dépôt international 05.03.1982
CIB
G01R 1/073 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
CPC
G01R 1/07328
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
07328for testing printed circuit boards
Déposants
  • MALLOY, James, T. [US]/[US]
Inventeurs
  • MALLOY, James, T.
Mandataires
  • HINDERSTEIN, Philip, M.
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) BED-OF-PINS TEST FIXTURE
(FR) APPAREIL DE TEST UTILISANT UN LIT A POINTE
Abrégé
(EN)
An in-circuit test fixture for use in making a non functional electrical insepection of individual components and/or circuit paths on a printed circuit board or wired backpanel assembly. The present in-circuit test fixture is cost effective and can be used when only small or moderate numbers of printed circuit boards have to be tested. The present test fixture eliminates the necessity for drilling holes in a support plate. Rather, a test head unit (11) and a transition head unit (12) are put together in modular fashion using assemblies (15) which may be positioned in stacked arrays to provide a two-dimensional series of channels (18) for support of pins (13) to provide a test head for testing a two-dimensional product and to provide a two-dimensional series of channels (18) for support of pins (44) to provide a transition head for interconnection with an electronic circuit analyzer.
(FR)
Appareil de test en circuit destiné à être utilisé pour exécuter une inspection électrique non fonctionnelle des composants individuels et/ou des chemins de circuit dans une carte de circuit imprimé ou d'un assemblage par câblage sur la face postérieure. L'appareil de test en circuit ci-décrit est rentable et peut être utilisé lorsqu'il faut tester uniquement de faibles quantités de cartes de circuits imprimés. Cet appareil de test élimine la nécessité de percer des trous dans une plaque de support. Une unité de tête de test (11) et une unité de tête de transition (12) sont reliées de manière modulaire utilisant des assemblages (15) pouvant être positionnés sur des rangées empilées pour obtenir une série bidimensionnelle de canaux (18) de support de pointes (13), de manière à réaliser une tête de test pour l'examen d'un produit bidimensionnel, et pour obtenir une série bidimensionnelle de canaux (18) de supports de pointes (44) de manière à réaliser une tête de transition pour la connexion à un analyseur de circuit électronique.
Également publié en tant que
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