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1. (WO1980001323) DISPOSITIF D"ESSAI POUR MICRO-PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1980/001323    N° de la demande internationale :    PCT/JP1979/000265
Date de publication : 26.06.1980 Date de dépôt international : 19.10.1979
CIB :
G06F 11/36 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
78/156199 18.12.1978 JP
Titre (EN) TESTING DEVICE FOR MICROPROGRAM
(FR) DISPOSITIF D"ESSAI POUR MICRO-PROGRAMME
Abrégé : front page image
(EN)In an electronic calculator consisting of a microprogram memory where micro-instructions are stored, a micro address controller which supplies addresses to the memory, and a register for retaining the micro-instructions read out of the microprogram memory, the contents of the microprogram are stored in a first section of a memory of a testing device for the microprogram. In a second section of the memory is stored information for testing the micro-instructions. During execution the micro-instructions, both the micro-instructions stored in the memory and testing information are read out and fed to an error detector circuit as well as to a trace control circuit concurrently. Further, the testing device is provided with a function change-over control circuit by which either the error detector circuit or trace control circuit is selected. When the error detector circuit is selected, errors in the micro-instructions are detected, whereas, when the trace control circuit is selected, a halt in the execution of the micro-instruction is controlled.
(FR)Dans un calculateur electronique ayant une memoire a micro programme ou des micro instructions sont stockees, un controleur a micro adresses qui fournit des adresses a la memoire, et un registre de retenue des micro instructions lues de la memoire de micro programme, le contenu du micro programme est stocke dans une premiere section d"une memoire d"un dispositif de controle ou test du micro programme. Dans une seconde section de la memoire des informations sont stockees pour controler les micro instructions. Pendant l"execution des micro instructions, les micro instructions stockees dans la memoire et les informations de test sont lues et envoyees a un circuit detecteur d"erreurs ainsi qu"a un circuit de commande d"impression de programme. En outre, le dispositif d"essai est pourvu d"un circuit de commande de changement qui permet de selectionner soit le circuit de detection d"erreurs soit le circuit de commandes d"impression du programme. Lorsque le circuit de detection d"erreurs est selectionne, les erreurs dans les micro instructions sont detectees, tandis que, lorsque le circuit de commande d"impression du programme est selectionne, les interruptions dans l"execution des microinstructions sont controlees.
États désignés :
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)