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1. US20060087307 - Single pin multilevel integrated circuit test interface

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Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 10519346
Date de la demande 19.06.2003
Numéro de publication 20060087307
Date de publication 27.04.2006
Type de publication A1
CIB
G01R 13/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
13Dispositions pour la présentation de variables électriques ou de formes d'ondes
G01R 13/02
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
13Dispositions pour la présentation de variables électriques ou de formes d'ondes
02pour la présentation sous forme numérique des variables électriques mesurées
G01R 31/28
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01R 31/317
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
G01R 31/3185
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
G11C 7/10
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
7Dispositions pour écrire une information ou pour lire une information dans une mémoire numérique
10Dispositions d'interface d'entrée/sortie de données, p.ex. circuits de commande E/S de données, mémoires tampon de données E/S
Déposants DE WINTER RUDI
Inventeurs De Winter Rudi
Mandataires TOWNSEND AND TOWNSEND AND CREW, LLP
Données relatives à la priorité 0214516 21.06.2002 GB
Titre
(EN) Single pin multilevel integrated circuit test interface
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Abrégé
(EN)

An integrated circuit comprises one or more integrated circuit elements which may interact with other circuitry via one or more input/output pins. In the present invention the circuit elements include and interface element for interfacing with external test circuitry. The interface element communicates with the external test circuitry via a single input/output pin dedicated for testing.


Documents de brevet associés
EP1520183
AU2003240198
WO/2004/001568
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