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1. US20040066886 - Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components

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Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 10464073
Date de la demande 17.06.2003
Numéro de publication 20040066886
Date de publication 08.04.2004
Numéro de délivrance 6845147
Date de délivrance 18.01.2005
Type de publication B2
CIB
G01N 23/201
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
201en mesurant la diffusion sous un petit angle, p.ex. la diffusion des rayons X sous un petit angle
G01D 18/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
18Test ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/129
G01N 23/20
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
G01N 23/223
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
22en mesurant l'émission secondaire de matériaux
223en irradiant l'échantillon avec des rayons X ou des rayons gamma et en mesurant la fluorescence X
G01T
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
G01T 1/36
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
36Mesure de la distribution spectrale des rayons X ou d'une radiation nucléaire
CPC
G01N 23/223
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
223by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
G01N 2223/076
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
07secondary emission
076X-ray fluorescence
G21K 1/06
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
06using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
Déposants EDAX Inc.
Inventeurs Elam William T.
Nicolosi Joseph A.
Shen Robert B.
Scruggs Bruce E.
Mandataires Webb Ziesenheim Logsdon Orkin & Hanson, P.C.
Données relatives à la priorité 10464073 17.06.2003 US
60389248 17.06.2002 US
Titre
(EN) Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components
front page image
Abrégé
(EN)

A method of measuring the transfer function of an X-ray optical component over a wide range of X-ray energies, which includes the steps of:

    • using an X-ray optical component between an X-ray source and a scattering target to obtain a first scatter spectrum;
    • obtaining a second scatter spectrum from the same or a similar target without the X-ray optical component between the X-ray source and the scattering target; and
    • calculating the transfer function by the ratio of the first scatter spectrum to the second scatter spectrum. The method can be used to improve the accuracy of X-ray quantitative methods in an apparatus where an X-ray optical component is used between the X-ray source and the specimen to be investigated by utilizing the method described above.
Documents de brevet associés
EP1521947
AU2003243638
WO/2003/107037
# -