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1. US20030225553 - Topology modeler

Lien permanent
Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 10160424
Date de la demande 31.05.2002
Numéro de publication 20030225553
Date de publication 04.12.2003
Numéro de délivrance 7222057
Date de délivrance 22.05.2007
Type de publication B2
CIB
G06F 7/60
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
7Méthodes ou dispositions pour le traitement de données en agissant sur l'ordre ou le contenu des données manipulées
60Méthodes ou dispositions pour effectuer des calculs en utilisant une représentation numérique non codée, c. à d. une représentation de nombres sans base; Dispositifs de calcul utilisant une combinaison de représentations de nombres codées et non codées
G06F 17/50
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17Équipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
50Conception assistée par ordinateur
G06F 17/10
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17Équipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
10Opérations mathématiques complexes
G06T 17/20
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
17Modélisation tridimensionnelle pour infographie
20Description filaire, p.ex. polygonalisation ou tessellation
CPC
G06T 17/20
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
17Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
20Finite element generation, e.g. wire-frame surface description, ; tesselation
Déposants UGS Corp.
Inventeurs Brombolich Daniel L.
Mandataires Baker Botts, LLP
Données relatives à la priorité 10160424 31.05.2002 US
Titre
(EN) Topology modeler
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Abrégé
(EN)

According to one embodiment of the invention, a method for modeling a feature associated with a deformed material is provided. The method includes generating a first mesh having a model of a feature and a second mesh. A normal distance between a point on the model of the feature and the surface of the first mesh is measured. A location of the surface point of the first mesh that is used to measure the normal distance is determined. The determined location is used to locate the same surface point on the second mesh. A new location for a new point corresponding to the point on the model of the feature associated with the first mesh is determined. The new location is located at the distance as the determined normal distance, but along a normal vector that intersects the same surface point on the second mesh.
Documents de brevet associés
EP1509853
CA2488055
AU2003237307
JP2005528701
WO/2003/102826
KR1020050019723
MXPA/a/2004/011936Cette demande ne peut pas être visualisée dans PATENTSCOPE car les données relatives à l'ouverture de la phase nationale n'ont pas encore été publiées ou sont émises par un pays qui ne partage pas de données avec l'OMPI ou il y a un problème de formatage ou d'indisponibilité de la demande.
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