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1. SG55582 - SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS

Office
Singapour
Numéro de la demande 1998042989
Date de la demande 08.08.1997
Numéro de publication 55582
Date de publication 18.01.1999
Numéro de délivrance
Date de délivrance 20.02.2001
Type de publication A
CIB
G01R 31/26
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H01L 21/66
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66Test ou mesure durant la fabrication ou le traitement
Déposants ADVANTEST CORPORATION
Inventeurs ITO, AKIHIKO
KOBAYASHI, YOSHIHITO
Données relatives à la priorité 8/211584 09.08.1996 JP
Titre
(EN) SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS