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1. KR1020050007601 - SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS

Office
République de Corée
Numéro de la demande 1020047020030
Date de la demande 09.12.2004
Numéro de publication 1020050007601
Date de publication 19.01.2005
Numéro de délivrance 1010351840000
Date de délivrance 17.05.2011
Type de publication B1
CIB
G01R 25/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
25Dispositions pour procéder aux mesures de l'angle de phase entre une tension et un courant ou entre des tensions ou des courants
G01R 31/28
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants ADVANTEST CORPORATION
가부시키가이샤 어드밴티스트
Inventeurs OHASHI MASATOSHI
오하시,마사또시
OKAYASU TOSHIYUKI
오까야스,도시유끼
Mandataires 장수길
이중희
구영창
Données relatives à la priorité JP-P-2002-00168304 10.06.2002 JP
Titre
(EN) SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS
(KO) 반도체 시험 장치
Abrégé
(EN)

An excellent failure/no-failure test of devices can be realized by measuring the cross point of a differential clock signal CLK outputted from DUT and the timings of two data signals DATA to obtain a relative phase difference between the two signals. There are provided differential signal timing measuring means that outputs cross point information Tcross obtained by measuring the timing of the cross point of one differential output signal outputted from a device to be tested; non-differential signal timing measuring means that outputs data change point information Tdata obtained by measuring a transition timing at which the logic of the other non- differential output signal outputted from DUT transitions; phase difference calculating means that outputs a phase difference ΔT obtained by calculating the relative phase difference between the cross point information Tcross obtained by measuring the two output signals at the same time and the data change point information T data; and failure/no-failure test means receptive of the phase difference ΔT for performing, based on a predetermined threshold value, a failure/no-failure test in the relative phase relationship of DUT.

© KIPO & WIPO 2007


(KO) DUT로부터 출력되는 차동 클럭 신호 CLK의 크로스포인트와, 데이터 신호 DATA의 양 신호의 타이밍을 측정하고, 양 신호간의 상대적인 위상차를 구함으로써, 양호한 디바이스의 양부(良否) 판정을 실현 가능하게 한다. 피시험 디바이스로부터 출력되는 한쪽의 차동 출력 신호의 크로스포인트의 타이밍을 측정하여 얻은 크로스포인트 정보 Tcross를 출력하는 차동 신호 타이밍 측정 수단과, DUT로부터 출력되는 다른쪽의 비차동 출력 신호의 논리가 천이하는 천이 타이밍을 측정하여 얻은 데이터 변화점 정보 Tdata를 출력하는 비차동 신호 타이밍 측정 수단과, 양 출력 신호를 동시에 측정하여 얻은 크로스포인트 정보 Tcross와 데이터 변화점 정보 Tdata의 양자간의 상대적인 위상차를 구하여 얻은 위상차 ΔT를 출력하는 위상차 산출 수단과, 위상차 ΔT를 받아서 양부 판정을 수행하는 소정의 임계값에 기초하여 임계값 DUT의 상대적인 위상 관계의 양부를 판정하는 양부 판정 수단을 구비한다.