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1. KR1020130141442 - 객체 특징을 선택적으로 관찰하기 위한 고속 획득 비전 시스템 및 그 방법

Office République de Corée
Numéro de la demande 1020137003949
Date de la demande 20.07.2011
Numéro de publication 1020130141442
Date de publication 26.12.2013
Numéro de délivrance 1018759800000
Date de délivrance 02.08.2018
Type de publication B1
CIB
G01B 11/24
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
G01B 9/04
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
04Microscopes de mesure
CPC
G01J 1/0214
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1Photometry, e.g. photographic exposure meter
02Details
0214Constructional arrangements for removing stray light
G02B 21/10
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
06Means for illuminating specimens
08Condensers
10affording dark-field illumination
G02B 21/365
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
G02B 27/0018
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
0018with means for preventing ghost images
Déposants 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드
포톤 다이나믹스, 인코포레이티드
Inventeurs 보덴육, 안드레이
보덴육, 안드레이
Mandataires 강명구
강명구
김현석
Données relatives à la priorité 12855647 12.08.2010 US
Titre
(KO) 객체 특징을 선택적으로 관찰하기 위한 고속 획득 비전 시스템 및 그 방법
Abrégé
(KO)
비-투명 물질 아래에 숨겨진 특징을 포함하는 객체의 특징을 선택적으로 보여주기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. 상기 시스템은 조정된 각도 스펙트럼을 갖는 조명 광선을 생성하는 조명 광원; 조명 광선의 공간 세기 변조를 위한 균질 광학 장치; 조명 광선의 코히어런스로인해 이미지 내 간섭 패턴을 줄이거나 억압하기 위한 영 위상화 광학장치; 조명 광선을 대상물체로 향하게 하고 상기 대상물체로부터 광선을 수집하는 무한 보정 대물렌즈(infinity corrected objective); 조명 광원으로부터 무한 보정 대물렌즈로 조명 광선을 전달시키는 조명 광학 경로; 무한 보정 대물렌즈로 들어가는 조명 광선에 대한 필요한 기울기 각도를 발생시키기 위한 릴레이 광학 장치; 광섬유의 조절 가능 아이리스 비네팅 프리 조리개; 조명 세기의 공간 변조를 위한 릴레이 광학 장치 내 이포다이징 엘리먼트; 대상물체의 이미지를 생성하기 위한 이미지 센서; 그리고 튜브 렌즈, 제거가능 블록 그리고 조절가능한 아이리스 조리개를 포함하는 대상물체로부터 이미지 센서로 광선을 전달하기 위한 이미지 광학 경로를 포함한다.

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