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1. JP2020149715 - LEARNING-TYPE CONTOUR LINE IDENTIFICATION SYSTEM USING IMPLANTABLE CONTOUR LINE METRIC DERIVED FROM CONTOUR LINE MAPPING

Office
Japon
Numéro de la demande 2020091391
Date de la demande 26.05.2020
Numéro de publication 2020149715
Date de publication 17.09.2020
Type de publication A
Déposants PADUBRIN HARRY FRIEDBERT
パドゥブリン、ハリー フリードベルト
Inventeurs PADUBRIN HARRY FRIEDBERT
パドゥブリン、ハリー フリードベルト
Mandataires 新保 斉
Titre
(EN) LEARNING-TYPE CONTOUR LINE IDENTIFICATION SYSTEM USING IMPLANTABLE CONTOUR LINE METRIC DERIVED FROM CONTOUR LINE MAPPING
(JA) 等高線マッピングから導き出される移植可能な等高線メトリックを使用する学習型等高線識別システム
Abrégé
(EN)

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system and a method for converting data into a contour line map to use plural contour line pattern metrics in previous data to manage and create patterns and contour line metrics for a training case and a test case in the training case and the test case, and converting each contour line into a contour line metric.

SOLUTION: The method includes the steps of: converting a data format into a contour line metric; converting each contour line of the mapping into a contour line pattern metric group; grouping the contour line pattern metric group of the group of the contour lines of the training case and the test case in the contour line map; and using the grouping for labelling.

SELECTED DRAWING: Figure 1

COPYRIGHT: (C)2020,JPO&INPIT

(JA)

【課題】トレーニングケースおよびテストケース両方においてこれらのパターンおよび等高線メトリックを管理しかつ作成するために、過去のデータの複数の等高線パターンメトリックを使用する目的で、データを等高線マップに変換し、かつ、その個々の等高線を等高線メトリックに変換するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】方法は、データフォーマットを等高線メトリックに変換することと、そのマッピングのそれぞれの等高線を、等高線パターンメトリック集合に変換することと、等高線マップによるトレーニングおよびテストケースの等高線の集合の等高線パターンメトリック集合をグループ化することと、それをラベリングに利用することと、を含む。
【選択図】図1