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1. JPWO2002061514 - 診断システム及び診断方法

Office
Japon
Numéro de la demande 2002562024
Date de la demande 23.01.2002
Numéro de publication WO2002061514
Date de publication 08.08.2002
Type de publication A5
CIB
G05B 23/02
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
23Test ou contrôle des systèmes de commande ou de leurs éléments
02Test ou contrôle électrique
G05B 19/418
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19Systèmes de commande à programme
02électriques
418Commande totale d'usine, c.à d. commande centralisée de plusieurs machines, p.ex. commande numérique directe ou distribuée (DNC), systèmes d'ateliers flexibles (FMS), systèmes de fabrication intégrés (IMS), productique (CIM)
CPC
G05B 23/0224
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
0205by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
0218characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
0224Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
Déposants 株式会社ニコン
Inventeurs 中村 肇
大島 典泰
Mandataires 立石 篤司
Données relatives à la priorité 2001022477 30.01.2001 JP
Titre
(JA) 診断システム及び診断方法
Abrégé
(JA)

診断装置(103,116,124)は、産業用機器(101,102,111〜115,121〜123)から送られてくる情報、あるいは前記産業用機器から定期的に収集した情報に基づいて、前記産業用機器の性能に関する所定の項目について、関連するデータを抽出し、前記産業用機器の異常の有無を早期に診断し、異常があればその原因を分析するとともに、診断結果及び分析結果を外部に通知する。これにより、産業用機器の異常を予測あるいは早期に検知するとともに、その原因を分析することが可能となる。


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