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1. EP2542906 - PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉFAILLANCE DE DIODES EN SÉRIE DANS REDRESSEURS

Office
Office européen des brevets (OEB)
Numéro de la demande 11709829
Date de la demande 02.03.2011
Numéro de publication 2542906
Date de publication 09.01.2013
Type de publication B1
CIB
G01R 31/34
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
34Tests de machines dynamoélectriques
G01R 31/26
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
G01R 31/40
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
40Tests d'alimentation
CPC
G01R 31/40
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
40Testing power supplies
G01R 31/2632
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
2607Circuits therefor
2632for testing diodes
G01R 31/34
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
34Testing dynamo-electric machines
Déposants ACCUMETRICS INC
ANDRITZ HYDRO GMBH
Inventeurs RESCHOVSKY JOHN MARK
ELAAN STACI JANE
REISINGER WALTER
États désignés
Données relatives à la priorité 30963010 02.03.2010 US
Titre
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR FEHLERDETEKTION BEI SERIENDIODEN BEI GLEICHRICHTERN
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR FAULT DETECTION OF SERIES DIODES IN RECTIFIERS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉFAILLANCE DE DIODES EN SÉRIE DANS REDRESSEURS
Abrégé
(EN) A method and apparatus for fault detection of series diodes in rectifiers is disclosed, wherein the voltages across one or both of the individual diodes, and/or the voltage across the pair of diodes are measured to determine a ratio between two of those voltages. The ratio is then analyzed to determine if a fault (e.g., a short circuit or an open circuit) is present. In some embodiments, circuitry can be included to compensate for the normal variations in diode characteristics (e.g., reverse leakage current, reverse recovery charge) between the pair of series diodes to minimize the potential for erroneous fault detection.
(FR) L'invention porte sur un procédé et sur un appareil de détection de défaillance de diodes en série dans des redresseurs. Les tensions aux bornes d'une des diodes individuelles ou des deux, et/ou la tension aux bornes de la paire de diodes sont mesurées afin de déterminer un rapport entre deux de ces tensions. Le rapport est ensuite analysé afin de déterminer si une défaillance (par exemple un court-circuit ou un circuit ouvert) est présente ou non. Dans certains modes de réalisation, une circuiterie peut être incluse afin de compenser les variations normales des caractéristiques des diodes (par exemple un courant de fuite inverse, une charge de récupération inverse) entre les deux diodes en série afin de réduire à un minimum le potentiel de détection erronée de défaillance.
Documents de brevet associés