(EN) A method of measuring the transfer function of an X-ray optical component (12) over wide range of X-ray energies, which includes steps of : using the X-ray optical component (12) between an X-ray source (10) and a scattering target (16) to obtain a first spectrum; obtaining a second scatter spectrum from the same or a similar target without the X-ray optical component (12) between the X-ray source (10) and the scattering target (16); and calculating the transfer function by the ratio of the first scatter spectrum to the second scatter spectrum. The method is used to improve the accuracy of X-ray quantitative methods in an apparatus where an X-ray optical component (12) is used between the X-ray source (10) and the specimen (16) to be investigated by utilizing the method described above.
(FR) L'invention concerne un procédé permettant de mesurer la fonction de transfert d'une composante optique de rayons X dans une large plage d'énergies de rayons X. Ce procédé comprend les étapes consistant à utiliser une composante optique de rayons X située entre une source de rayons X et une cible de diffusion afin d'obtenir un premier spectre de diffusion, à obtenir un second spectre de diffusion à partir de la même cible ou d'une cible similaire sans la composante optique de rayons X située entre la source de rayons X et la cible de diffusion, et à calculer la fonction de transfert à l'aide du rapport entre le premier spectre de diffusion et le second spectre de diffusion. Ce procédé peut être utilisé pour améliorer la précision de procédés quantitatifs à rayons X dans un appareil dans lequel une composante optique de rayons X est utilisée entre la source de rayons X et le spécimen à analyser au moyen du procédé décrit ci-dessus.
