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1. EP1521947 - PROCEDE DE SPECTRES DE DIFFUSION POUR ANALYSE PAR FLUORESCENCE DES RAYONS X AVEC DES COMPOSANTES OPTIQUES

Office
Office européen des brevets (OEB)
Numéro de la demande 03760459
Date de la demande 17.06.2003
Numéro de publication 1521947
Date de publication 13.04.2005
Type de publication A4
CIB
G01N 23/223
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
22en mesurant l'émission secondaire de matériaux
223en irradiant l'échantillon avec des rayons X ou des rayons gamma et en mesurant la fluorescence X
G01D 18/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
18Test ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/129
G01N 23/20
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
G01N 23/201
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
201en mesurant la diffusion sous un petit angle, p.ex. la diffusion des rayons X sous un petit angle
G01T
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
G01T 1/36
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
36Mesure de la distribution spectrale des rayons X ou d'une radiation nucléaire
CPC
G01N 23/223
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
223by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
G01N 2223/076
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
07secondary emission
076X-ray fluorescence
G21K 1/06
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
06using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
Déposants EDAX INC
Inventeurs ELAM WILLIAM T
NICOLOSI JOSEPH A
SHEN ROBERT B-S
SCRUGGS BRUCE E
États désignés
Données relatives à la priorité 0319246 17.06.2003 US
38924802 17.06.2002 US
Titre
(DE) RÖNTGENSTRAHLSPEKTRUMSMETHODE ZUR FLUORESCENZANALYSE MIT OPTISCHEN KOMPONENTEN
(EN) SCATTER SPECTRA METHOD FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS WITH OPTICAL COMPONENTS
(FR) PROCEDE DE SPECTRES DE DIFFUSION POUR ANALYSE PAR FLUORESCENCE DES RAYONS X AVEC DES COMPOSANTES OPTIQUES
Abrégé
(EN) A method of measuring the transfer function of an X-ray optical component (12) over wide range of X-ray energies, which includes steps of : using the X-ray optical component (12) between an X-ray source (10) and a scattering target (16) to obtain a first spectrum; obtaining a second scatter spectrum from the same or a similar target without the X-ray optical component (12) between the X-ray source (10) and the scattering target (16); and calculating the transfer function by the ratio of the first scatter spectrum to the second scatter spectrum. The method is used to improve the accuracy of X-ray quantitative methods in an apparatus where an X-ray optical component (12) is used between the X-ray source (10) and the specimen (16) to be investigated by utilizing the method described above.
(FR) L'invention concerne un procédé permettant de mesurer la fonction de transfert d'une composante optique de rayons X dans une large plage d'énergies de rayons X. Ce procédé comprend les étapes consistant à utiliser une composante optique de rayons X située entre une source de rayons X et une cible de diffusion afin d'obtenir un premier spectre de diffusion, à obtenir un second spectre de diffusion à partir de la même cible ou d'une cible similaire sans la composante optique de rayons X située entre la source de rayons X et la cible de diffusion, et à calculer la fonction de transfert à l'aide du rapport entre le premier spectre de diffusion et le second spectre de diffusion. Ce procédé peut être utilisé pour améliorer la précision de procédés quantitatifs à rayons X dans un appareil dans lequel une composante optique de rayons X est utilisée entre la source de rayons X et le spécimen à analyser au moyen du procédé décrit ci-dessus.
Documents de brevet associés