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1. (WO2019048727) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional    Formular observación

Nº de publicación: WO/2019/048727 Nº de la solicitud internacional: PCT/FI2017/050628
Fecha de publicación: 14.03.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 06.09.2017
CIP:
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
27
Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos
02
investigando la impedancia
04
investigando la resistencia
06
de un líquido
07
Estructura de los recipientes de medida; Electrodos para estos recipientes
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
27
Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos
02
investigando la impedancia
22
investigando la capacidad
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
26
aceites; líquidos viscosos; pinturas; tintas
28
aceites
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
27
Dispositivos para realizar medidas de la resistencia, reactancia, impedancia, o de características eléctricas derivadas
02
Medida de resistencias, reactancias, impedancias reales o complejas, o de otras características bipolares derivadas, p. ej. constante de tiempo
26
Medida de la inductancia o de la capacitancia; Medida del factor de calidad, p. ej. utilizando el método por resonancia; Medida del factor de pérdidas; Medida de constantes dieléctricas
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
27
Dispositivos para realizar medidas de la resistencia, reactancia, impedancia, o de características eléctricas derivadas
02
Medida de resistencias, reactancias, impedancias reales o complejas, o de otras características bipolares derivadas, p. ej. constante de tiempo
22
Medida de la resistencia de fluidos
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
02
alimentación
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
34
papel
Solicitantes:
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
Personas inventoras:
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
Mandataria/o:
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
Datos de prioridad:
Título (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
Resumen:
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)