Colecciones nacionales e internacionales de patentes
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1. (WO2018180900) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina InternacionalFormular observación

Nº de publicación: WO/2018/180900 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/011450
Fecha de publicación: 04.10.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 22.03.2018
Se presentó la solicitud en virtud del Capítulo II: 05.07.2018
CIP:
G01B 5/012 (2006.01) ,G01B 5/016 (2006.01) ,G01B 5/20 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
B
MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS
5
Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios mecánicos
004
para la medida de coordenadas de puntos
008
que utilizan máquinas de medida de coordenadas
012
Cabezas palpadoras establecedoras de contacto para dichas máquinas
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
B
MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS
5
Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios mecánicos
004
para la medida de coordenadas de puntos
008
que utilizan máquinas de medida de coordenadas
012
Cabezas palpadoras establecedoras de contacto para dichas máquinas
016
Detalles constructivos de los contactos
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
B
MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS
5
Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios mecánicos
20
para la medida de contornos o curvaturas
Solicitantes:
株式会社東京精密 TOKYO SEIMITSU CO., LTD. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2968-2 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928515, JP
Personas inventoras:
森井 秀樹 MORII, Hideki; JP
Mandataria/o:
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
Datos de prioridad:
2017-06138727.03.2017JP
Título (EN) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
(FR) DÉTECTEUR, INSTRUMENT DE MESURE DE PROPRIÉTÉ DE SURFACE ET INSTRUMENT DE MESURE DE RONDEUR
(JA) 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
Resumen:
(EN) Provided are a detector, surface property measurement instrument, and roundness measurement instrument for addressing the problem of automatically measuring a plurality of surfaces and reducing the time required for the measurement. This problem is addressed by a detector provided with a stylus for supporting a contact for touching the surface of an object of measurement, a holding part for holding the stylus, a measurement part for holding the holding part such that the same can freely pivot around a rotation axis and for detecting the displacement of the holding part, and a body part for accommodating the measurement part, wherein the holding part holds the stylus such that a stylus axis, which is the axis of the stylus, and a body axis, which is the axis of the body, are parallel and the stylus axis and body axis are offset in a first direction orthogonal to the body axis and rotation axis.
(FR) La présente invention concerne un détecteur, un instrument de mesure de propriété de surface et un instrument de mesure de rondeur permettant d'aborder le problème de la mesure automatique d'une pluralité de surfaces et de réduire le temps requis pour la mesure. Ledit problème est résolu par un détecteur pourvu d'un stylet destiné à supporter un contact pour toucher la surface d'un objet de mesure, d'une partie de maintien pour maintenir le stylet, d'une partie de mesure pour maintenir la partie de maintien de telle sorte qu'elle puisse pivoter librement autour d'un axe de rotation et pour détecter le déplacement de la partie de maintien, et d'un corps pour recevoir la partie de mesure, la partie de maintien maintenant le stylet de telle sorte qu'un axe de stylet, qui est l'axe du stylet, et un axe de corps, qui est l'axe du corps, soient parallèles et de telle sorte que l'axe du stylet et l'axe du corps soient décalés dans une première direction orthogonale à l'axe du corps et à l'axe de rotation.
(JA) 複数の面を自動的に測定し、測定に要する時間を短縮する検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機を提供する。測定対象物の表面に接触する接触子を支持するスタイラスと、スタイラスを保持する保持部と、保持部を回転軸によって揺動自在に保持し、保持部の変位を検出する測定部と、測定部を収納する本体部と、を備え、保持部は、スタイラスの軸であるスタイラス軸と本体部の軸である本体軸とを平行に、かつスタイラス軸と本体軸とを本体軸及び回転軸に直交する第1方向にオフセットしてスタイラスを保持する検出器によって上記課題を解決する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)