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1. (WO2016108198) PATÍN DE MEDICIÓN DE VAPOR
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional   

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Nº de publicación:    WO/2016/108198    Nº de la solicitud internacional:    PCT/IB2015/060053
Fecha de publicación: 07.07.2016 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 30.12.2015
CIP:
G01F 25/00 (2006.01), G01F 15/00 (2006.01), G01F 15/02 (2006.01), G01F 5/00 (2006.01)
Solicitantes: ABEINSA EPC MEXICO, S.A. DE C.V [MX/MX]; Bahía de Santa Barbara 174, Col. Veronica Anzures. Ciudad De Mexico, 11300 (MX)
Personas inventoras: EDGAR, ALEJANDRO, Zapien Ovando; (MX).
MIGUEL ANGEL, Ortiz Garica; (MX)
Mandataria/o: ALAVEZ NEJIA, Eric Aarón; Insurgentes Sur 1722, Desp. 701 Col. Florida, Del Alvaro Obregòn CP 01030 México D.F. (MX)
Datos de prioridad:
P201431953 30.12.2014 ES
Título (EN) VAPOUR METERING SKID
(ES) PATÍN DE MEDICIÓN DE VAPOR
(FR) PATIN DE MESURE DE VAPEUR
Resumen: front page image
(EN)The invention relates to a vapour metering skid for custody transfer applications, comprising at least two metering units, namely a main unit and a back-up unit for the main unit, with a calibration unit being provided for the skid in one embodiment, said units being interconnected so that it is possible to meter 100% of the vapour that enters the metering skid. In addition, the metering skid can self-calibrate.
(ES)Se describe un patín de medición de vapor para custodia integrado por al menos dos trenes de medición que son un tren principal y un tren de respaldo del tren principal, en una realización se provee un tren de calibración para el patín, estos trenes están interconectados a fin de poder medir el 100% del vapor que entra al patín de medición, además el patín de medición se puede auto-calibrar.
(FR)L'invention concerne un patin de mesure de vapeur pour intégré d'au moins deux trains de mesure qui sont un train principal et un train d'appui du train principal, dans une réalisation un train d'étalonnage est prévu pour le patin, ces trains sont interconnectés afin de pouvoir mesurer 100% de la vapeur qui entre dans le patin de mesure, en outre le patin de mesure peut s'auto-étalonner.
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Idioma de publicación: español (ES)
Idioma de la solicitud: español (ES)