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1. (WO2014144436) SYSTEMS AND METHODS FOR IMPLEMENTING S/ SSTDR MEASUREMENTS
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional

Nº de publicación: WO/2014/144436 Nº de la solicitud internacional: PCT/US2014/028847
Fecha de publicación: 18.09.2014 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 14.03.2014
CIP:
G01R 23/16 (2006.01) ,G01R 31/3183 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
23
Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia
16
Análisis de espectros; Análisis de Fourier
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
31
Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar
28
Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales
317
Ensayo de circuitos digitales
3181
Ensayos funcionales
3183
Generación de señales de entrada de prueba, p. ej. vectores, formas o secuencias de ensayo
Solicitantes:
THE UNIVERSITY OF UTAH RESEARCH FOUNDATION [US/US]; 615 Arapeen Drive Suite 310 Salt Lake City, UT 84108, US
Personas inventoras:
FURSE, Cynthia; US
KHAN, Faisal; US
Mandataria/o:
REES, Nathan; Fulbright & Jaworski LLP 2200 Ross Avenue Suite 2800 Dallas, TX 75201-2784, US
Datos de prioridad:
13/842,85415.03.2013US
Título (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR IMPLEMENTING S/ SSTDR MEASUREMENTS
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE RÉALISATION DE MESURES PAR S/SSTDR
Resumen:
(EN) Systems and methods which utilize spread spectrum sensing on live circuits to obtain information regarding a circuit under test are provided. In some embodiments S/SSTDR testing may be utilized to obtain R, L, C and Z measurements from circuit components. In yet further embodiments, these measurements may be utilized to monitor the output of sensors on a circuit.
(FR) La présente invention concerne des systèmes et des procédés qui utilisent une détection de spectre étalé de circuits sous tension pour obtenir des informations concernant un circuit soumis à un essai. Selon certains modes de réalisation, un essai de S/SSTDR peut être utilisé pour obtenir des mesures R, L, C et Z de composants de circuit. Selon encore d'autres modes de réalisation, ces mesures peuvent être utilisées pour surveiller la sortie de capteurs d'un circuit.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)