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1. (WO2019061815) 阵列基板及阵列基板测试结构
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公布号: WO/2019/061815 国际申请号: PCT/CN2017/114601
公布日: 04.04.2019 国际申请日: 05.12.2017
国际专利分类:
G02F 1/13 (2006.01)
G PHYSICS
02
光学
F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
1
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
申请人:
武汉华星光电技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 Building C5, Biolake of Optics Valley No. 666 Gaoxin Avenue Wuhan East Lake High-tech Development Zone Wuhan, Hubei 430070, CN
发明人:
黄耀立 HUANG, Yao-Li; CN
贺兴龙 HE, Xinglong; CN
代理人:
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
优先权数据:
201710879966.026.09.2017CN
标题 (EN) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
(FR) SUBSTRAT MATRICIEL ET STRUCTURE D'ESSAI POUR LE SUBSTRAT MATRICIEL
(ZH) 阵列基板及阵列基板测试结构
摘要:
(EN) An array substrate (10). The array substrate (10) comprises a display area (100), and a non-display area (200). A plurality of test signal receiving pins (230), a plurality of press-fitting pins (240) and a plurality of transmission lines (220) are provided in the non-display area (200); and the test signal receiving pins (230) and the press-fitting pins (240) are arranged into one row. The array substrate reduces the width of the non-display area (200) of an electronic device and the design of a narrow frame of the electronic device is facilitated.
(FR) L'invention concerne un substrat matriciel (10). Le substrat matriciel (10) comprend une zone d'affichage (100) et une zone de non-affichage (200). Une pluralité de broches de réception de signal d'essai (230), une pluralité de broches d'ajustement par pression (240) et une pluralité de lignes de transmission (220) sont disposées dans la zone de non-affichage (200); et les broches de réception de signal d'essai (230) et les broches d'ajustement par pression (240) sont agencées en une rangée. Le substrat matriciel réduit la largeur de la zone de non-affichage (200) d'un dispositif électronique et la conception d'un cadre étroit du dispositif électronique est facilitée.
(ZH) 一种阵列基板(10),所述阵列基板(10)包括显示区(100)及非显示区(200),非显示区(200)设置有多个测试信号接收引脚(230)、多个压合引脚(240)以及多个传输线(220),测试信号接收引脚(230)与压合引脚(240)排列成一排。该阵列基板降低了电子装置非显示区(200)的宽度,便于电子装置的窄边框设计。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 中文 (ZH)
申请语言: 中文 (ZH)