此应用程序的某些内容目前无法使用。
如果这种情况持续存在,请联系我们反馈与联系
1. (WO2019050505) MONTE CARLO MODELING OF THORIUM BLANKET FIELD CALIBRATORS
国际局存档的最新著录项目数据    提交意见

公布号: WO/2019/050505 国际申请号: PCT/US2017/050125
公布日: 14.03.2019 国际申请日: 05.09.2017
国际专利分类:
G01T 7/00 (2006.01) ,G01T 1/167 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
T
核辐射或X射线辐射的测量
7
辐射计量仪器的附件
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
T
核辐射或X射线辐射的测量
1
Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16
辐射强度测量
167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
申请人:
HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC. [US/US]; 3000 N. Sam Houston Parkway E. Houston, Texas 77032, US
发明人:
GALFORD, James E.; US
代理人:
RAJ, Vinu; US
TIDWELL, Mark; US
BORLAND, Harold; US
LAYE, Jade O.; US
PITTMAN, David; US
BROWN, Randall C.; US
EDWARDS, Gary; US
HERDA, Alan; US
SUAREZ, Vera; US
HALBUR, Zachary; US
TU, Evert Uy; US
PAPE, Eileen; US
HARDAWAY, Kevin L.; US
DEMARCO, John; US
MENEZES, Clive; US
BRYSON, Alan C; US
FITE, Benjamin; US
RODDY, Craig; US
WUSTENBERG, John; US
RICHARDSON, Scott; US
KRUEGER, Tenley; US
优先权数据:
标题 (EN) MONTE CARLO MODELING OF THORIUM BLANKET FIELD CALIBRATORS
(FR) MODÉLISATION DE MONTE CARLO D'ÉTALONNEURS DE CHAMP DE COUVERTURE DE THORIUM
摘要:
(EN) System and methods for calibrating gamma ray tools using blanket field calibrator models is provided. A counting rate of a first gamma ray tool is simulated based on a model of a first blanket calibrator. When it is determined that the simulated counting rate matches a measured counting rate associated with the first gamma ray tool, a tally multiplier and a corresponding material specification for the model of the first blanket calibrator is determined. A counting rate for a second gamma ray tool is simulated based on the tally multiplier and the material specification determined for the model of the first blanket calibrator. A sensitivity factor for the second gamma ray tool is determined based on the simulation. The second gamma ray tool is calibrated according to a nominal blanket activity calculated from the sensitivity factor of the second gamma ray tool.
(FR) L'invention concerne un système et des procédés permettant d'étalonner des outils à rayons gamma à l'aide de modèles d'étalonneur de champ de couverture. Un taux de comptage d'un premier outil à rayons gamma est simulé d'après un modèle d'un premier étalonneur de couverture. Lorsqu'il est déterminé que le taux de comptage simulé concorde avec un taux de comptage mesuré associé au premier outil à rayons gamma, un multiplicateur de marque et une spécification de matériau correspondante pour le modèle du premier étalonneur de couverture sont déterminés. Un taux de comptage pour un second outil à rayons gamma est simulé d'après le multiplicateur de comptage et la spécification de matériau déterminés pour le modèle du premier étalonneur de couverture. Un facteur de sensibilité pour le second outil à rayons gamma est déterminé en fonction de la simulation. Le second outil à rayons gamma est étalonné selon une activité de couverture nominale calculée à partir du facteur de sensibilité du second outil à rayons gamma.
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)