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1. (WO2019049391) DEVICE MALFUNCTION CAUSE INFERENCE SYSTEM
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公布号: WO/2019/049391 国际申请号: PCT/JP2018/006539
公布日: 14.03.2019 国际申请日: 22.02.2018
国际专利分类:
G05B 23/02 (2006.01)
G PHYSICS
05
控制;调节
B
一般的控制或调节系统;这种系统的功能单元;用于这种系统或单元的监视或测试装置
23
控制系统或其部件的检验或监视
02
电检验式监视
申请人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
发明人:
浅井 大輔 ASAI Daisuke; JP
代理人:
ポレール特許業務法人 POLAIRE I.P.C.; 東京都中央区日本橋茅場町二丁目13番11号 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025, JP
优先权数据:
2017-17086106.09.2017JP
标题 (EN) DEVICE MALFUNCTION CAUSE INFERENCE SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'INFÉRENCE DE CAUSE DE DYSFONCTIONNEMENT DE DISPOSITIF
(JA) 機器の異常原因推定システム
摘要:
(EN) For devices that may be involved in interaction with a person, it is desired that an assessment of a malfunction be carried out while taking into consideration what influence the person had when the malfunction with the device occurred. An objective of the present invention is to provide an inference system for sensing an anomalous operation of a person in a wider range and carrying out a malfunction assessment of a device while taking into consideration the influence of the anomalous operation. This malfunction cause inference system for inferring the cause of a malfunction occurring with a device comprises: an anomalous operation sensing unit for sensing an anomalous operation on the basis of an output from an operation sensor for sensing an operation performed by a person; a device malfunction sensing unit for sensing a malfunction with the device on the basis of an output from a sensor attached to the device for sensing the situation of the device; and a person-caused malfunction assessment unit for assessing whether the anomalous operation has an influence on the device malfunction on the basis of the output of the anomalous operation sensing unit and the output of the device malfunction sensing unit.
(FR) Dans la présente invention, si des dispositifs peuvent être impliqués dans une interaction avec une personne, il est souhaitable qu'une évaluation d'un dysfonctionnement soit effectuée tout en prenant en considération l'influence de la personne lorsque le dysfonctionnement avec le dispositif s'est produit. Un objectif de la présente invention est de fournir un système d'inférence permettant de détecter une opération anormale d'une personne dans une plage plus large et d'effectuer une évaluation de dysfonctionnement d'un dispositif tout en prenant en considération l'influence de l'opération anormale. Ce système d'inférence de cause de dysfonctionnement permettant d'inférer la cause d'un dysfonctionnement se produisant avec un dispositif comprend : une unité de détection d'opération anormale servant à détecter une opération anormale à partir d'une sortie d'un capteur d'opération de manière à détecter une opération effectuée par une personne ; une unité de détection de dysfonctionnement de dispositif servant à détecter un dysfonctionnement avec le dispositif à partir d'une sortie d'un capteur fixé au dispositif de manière à détecter la situation du dispositif ; et une unité d'évaluation de dysfonctionnement provoqué par une personne servant à évaluer si l'opération anormale a une influence ou non sur le dysfonctionnement du dispositif à partir de la sortie de l'unité de détection d'opération anormale et de la sortie de l'unité de détection de dysfonctionnement de dispositif.
(JA) 人とのインタラクションが発生する機器では、機器の異常時に人がどのように影響を及ぼしたかを考慮して、異常の判定を行うことが望ましい。本発明は、より広範囲で人の異常動作を検知し、その影響を考慮して機器の異常判定を行う推定システムを提供することを目的とする。そこで、機器に発生した異常の原因を推定する異常原因推定システムであって、人の動作を検知する動作検知センサの出力に基づき、異常動作を検知する異常動作検知部と、前記機器の状況を検知する機器付帯センサの出力に基づき、機器異常を検知する機器異常検知部と、前記異常動作検知部の出力と、前記機器異常検知部の出力に基づき、機器異常への異常動作の影響の有無を判定する人起因異常判定部と、を備える異常原因推定システムとした。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)