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1. (WO2019049304) IMPACT TEST DEVICE
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公布号: WO/2019/049304 国际申请号: PCT/JP2017/032432
公布日: 14.03.2019 国际申请日: 08.09.2017
第2章国际初步审查要求书已提交: 15.03.2018
国际专利分类:
G01N 3/303 (2006.01) ,G01M 7/08 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
3
用机械应力测试固体材料的强度特性
30
用一次冲击力
303
仅由自由下落的重物产生的
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
7
结构部件的振动测试;结构部件的冲击测试
08
冲击测试
申请人:
神栄テストマシナリー株式会社 SHINYEI TESTING MACHINERY CO., LTD. [JP/JP]; 茨城県つくば市香取台B47街区11画地 B47 city block 11 plot, Katoridai, Tsukuba-shi, Ibaraki 3002657, JP
发明人:
谷口 浩 TANIGUCHI, Hiroshi; --
代理人:
特許業務法人 有古特許事務所 PATENT CORPORATE BODY ARCO PATENT OFFICE; 兵庫県神戸市中央区東町123番地の1 貿易ビル3階 3rd Fl., Bo-eki Bldg., 123-1, Higashimachi, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6500031, JP
优先权数据:
标题 (EN) IMPACT TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI DE CHOC
(JA) 衝撃試験装置
摘要:
(EN) The invention is provided with: an impact table part for placing an object under test thereon and dropping same; a guide part for guiding the impact table part in the up/down direction; a lifting/lowering part for raising the impact table part to a predetermined height along the guide part; a retention part for retaining the impact table part at the predetermined height of the guide part; a base part having an impact part arranged at a drop portion of the impact table part; a sensor for detecting the impact of when the impact table part impacts on the impact part; and a control unit for causing the impact table part, having been retained at the retention part, to drop. The base part is further provided with a spring member for urging the impact table part downward during the ascent of the impact table part and increasing the drop speed of the impact table part. Due to this configuration, it is possible to configure an impact test device so as to be formed in a compact manner and so that a highly-reproducible impact test can be performed.
(FR) La présente invention est pourvue de : une partie de table d'impact pour placer un objet soumis à essai sur celle-ci et laisser tomber celui-ci; une partie de guidage pour guider la partie de table d'impact dans la direction haut/bas; une partie de levage/abaissement pour lever la partie de table d'impact à une hauteur prédéterminée le long de la partie de guidage; une partie de retenue pour retenir la partie de table d'impact à la hauteur prédéterminée de la partie de guidage; une partie de base ayant une partie d'impact agencée au niveau d'une partie de chute de la partie de table d'impact; un capteur pour détecter le choc lorsque la partie de table d'impact heurte la partie d'impact; et une unité de commande pour amener la partie de table d'impact, ayant été retenue au niveau de la partie de retenue, à tomber. La partie de base est en outre pourvue d'un élément de ressort pour solliciter la partie de table d'impact vers le bas pendant la montée de la partie de table d'impact et augmenter la vitesse de chute de la partie de table d'impact. Grâce à cette configuration, il est possible de configurer un dispositif d'essai de choc de façon à être formé de façon compacte et de sorte qu'un essai de choc hautement reproductible puisse être conduit.
(JA) 試験対象物を載せて落下させる衝撃テーブル部と、衝撃テーブル部を上下方向に案内するガイド部と、衝撃テーブル部をガイド部に沿って所定高さまで持ち上げる昇降部と、衝撃テーブル部をガイド部の所定高さで保持する保持部と、衝撃テーブル部の落下部分に配置された衝突部を有するベース部と、衝撃テーブル部が衝突部に衝突したときの衝撃を検出するセンサと、保持部で保持した衝撃テーブル部を落下させる制御部と、を備え、ベース部は、衝撃テーブル部の上昇時に衝撃テーブル部を下向きに付勢して衝撃テーブル部の落下速度を増加させるスプリング部材をさらに備えている。これにより、装置をコンパクトに形成することができ、再現性が高い衝撃試験ができる衝撃試験装置を構成できる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)