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1. (WO2019048504) MICROSCOPE HAVING COLLISION PROTECTION
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2019/048504 国际申请号: PCT/EP2018/073910
公布日: 14.03.2019 国际申请日: 05.09.2018
国际专利分类:
G02B 21/02 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01)
G PHYSICS
02
光学
B
光学元件、系统或仪器
21
显微镜
02
物镜
G PHYSICS
02
光学
B
光学元件、系统或仪器
21
显微镜
24
底座结构
G PHYSICS
02
光学
B
光学元件、系统或仪器
21
显微镜
24
底座结构
26
平台;其调节装置
申请人:
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar, DE
发明人:
HITZLER, Sebastian; DE
代理人:
GRUNERT, Marcus; KUDLEK & GRUNERT PATENTANWÄLTE Postfach 33 04 29 80064 München, DE
优先权数据:
10 2017 120 651.507.09.2017DE
标题 (DE) MIKROSKOP MIT KOLLISIONSSCHUTZ
(EN) MICROSCOPE HAVING COLLISION PROTECTION
(FR) MICROSCOPE DOTÉ D’UNE PROTECTION ANTI-COLLISION
摘要:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einem Stativ (20), an dem ein Mikroskoptisch (40) zum Tragen eines Präparats (41) und ein Objektiv (30) angeordnet sind, und mit einem Positioniersystem (21) zur Einstellung eines Abstandes zwischen dem Mikroskoptisch (40) und dem Objektiv (30) und/oder zur Einstellung einer X-Y-Position des Mikroskoptisches, wobei das Mikroskop (10) einen Kraft- oder Drucksensor (32, 42) aufweist, der derart angeordnet und eingerichtet ist, dass eine Kraftübertragung von dem Mikroskoptisch (40) auf das Objektiv (30) oder umgekehrt erkannt wird.
(EN) The invention relates to a microscope, comprising a stand (20), on which a microscope stage (40) for supporting a preparation (41) and an objective (30) are arranged, and comprising a positioning system (21) for setting a distance between the microscope stage (40) and the objective (30) and/or for setting an X-Y-position of the microscope stage, the microscope (10) having a force or pressure sensor (32, 42), which is arranged and designed in such a way that a transmission of force from the microscope stage (40) to the objective (30) or vice versa is detected.
(FR) L’invention concerne un microscope comprenant : un pied (20) sur lequel sont montés une table de microscope (40) destiné à porter une préparation (41), et un objectif (30); un système de positionnement (21) servant à régler la distance entre la table de microscope (40) et l’objectif (30) et/ou à régler la position X-Y de la table de microscope (40), le microscope (10) présentant un capteur de force ou de pression (32, 42) qui est disposé et conçu de telle sorte qu'une transmission de force de la table de microscope (40) à l'objectif (30) ou inversement est détectée.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 德语 (DE)
申请语言: 德语 (DE)