此应用程序的某些内容目前无法使用。
如果这种情况持续存在,请联系我们反馈与联系
1. (WO2019045943) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
国际局存档的最新著录项目数据    提交意见

公布号: WO/2019/045943 国际申请号: PCT/US2018/044794
公布日: 07.03.2019 国际申请日: 01.08.2018
国际专利分类:
G11C 16/26 (2006.01) ,G11C 16/34 (2006.01) ,G06F 11/07 (2006.01)
G PHYSICS
11
信息存储
C
静态存储器
16
可擦除可编程序只读存储器
02
电可编程序的
06
辅助电路,例如,用于写入存储器的
26
读出或读电路;数据输出电路
G PHYSICS
11
信息存储
C
静态存储器
16
可擦除可编程序只读存储器
02
电可编程序的
06
辅助电路,例如,用于写入存储器的
34
编程状态的确定,例如,阈值电压、过编程或欠编程、保留
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
F
电数字数据处理
11
错误检测;错误校正;监控
07
响应错误的产生,例如,容错
申请人:
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 So. Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
发明人:
MUCHHERLA, Kishore Kumar; US
MALSHE, Ashutosh; US
SINGIDI, Harish Reddy; US
ALSASUA, Gianni Stephen; US
BESINGA, Gary F.; US
RATNAM, Sampath; US
FEELEY, Peter Sean; US
代理人:
PERDOK, Monique M.; US
ARORA, Suneel; US
BEEKMAN, Marvin L.; US
BLACK, David W.; US
SCHEER, Bradley W.; US
优先权数据:
15/692,40731.08.2017US
标题 (EN) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
(FR) INTERVALLE DE BALAYAGE OPTIMISÉ
摘要:
(EN) A variety of applications can include apparatus and/or methods of operating the apparatus that include a memory device having read levels that can be calibrated. A calibration controller implemented with the memory device can trigger a read level calibration based on inputs from one or more trackers monitoring parameters associated with the memory device and a determination of an occurrence of at least one event from a set of events related to the monitored parameters. The monitored parameters can include parameters related to a selected time interval and measurements of read, erase, or write operations of the memory device. Additional apparatus, systems, and methods are disclosed.
(FR) L'invention concerne diverses applications qui peuvent comprendre un appareil et/ou des procédés de fonctionnement de l'appareil qui comprennent un dispositif de mémoire présentant des niveaux de lecture qui peuvent être étalonnés. Un dispositif de commande d'étalonnage mis en oeuvre avec le dispositif de mémoire peut déclencher un étalonnage de niveau de lecture sur la base d'entrées provenant d'un ou plusieurs dispositifs de suivi surveillant des paramètres associés au dispositif de mémoire et une détermination d'une occurrence d'au moins un événement à partir d'un ensemble d'événements liés aux paramètres surveillés. Les paramètres surveillés peuvent comprendre des paramètres associés à un intervalle de temps sélectionné et des mesures d'opérations de lecture, d'effacement ou d'écriture du dispositif de mémoire. L'invention concerne en outre un appareil, des systèmes et des procédés supplémentaires.
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)