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1. (WO2019045027) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
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公布号: WO/2019/045027 国际申请号: PCT/JP2018/032282
公布日: 07.03.2019 国际申请日: 31.08.2018
国际专利分类:
G01N 27/82 (2006.01) ,G01R 33/02 (2006.01) ,G01R 33/10 (2006.01) ,H01M 10/42 (2006.01) ,H01M 10/48 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
27
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
72
通过测试磁变量
82
用于测试缺陷的存在
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
R
测量电变量;测量磁变量
33
测量磁变量的装置或仪器
02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
R
测量电变量;测量磁变量
33
测量磁变量的装置或仪器
02
测量磁场或磁通量的方向或大小
10
磁场分布的绘制
H 电学
01
基本电气元件
M
用于直接转变化学能为电能的方法或装置,例如电池组
10
二次电池;及其制造
42
使用或维护二次电池或二次半电池的方法及装置
H 电学
01
基本电气元件
M
用于直接转变化学能为电能的方法或装置,例如电池组
10
二次电池;及其制造
42
使用或维护二次电池或二次半电池的方法及装置
48
与测量、试验或指示情况的装置相组合的蓄电池,例如测量、测试或指示电解质高度或密度
申请人:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
发明人:
関根 孝二郎 SEKINE, Koujirou; JP
今田 昌宏 IMADA, Masahiro; JP
八木 司 YAGI, Tsukasa; JP
土田 匡章 TSUCHIDA, Masaaki; JP
波多野 卓史 HATANO, Takuji; JP
代理人:
特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都千代田区有楽町一丁目1番3号 東京宝塚ビル17階 17F., Tokyo Takarazuka Bldg., 1-1-3, Yurakucho, Chiyoda-ku, Tokyo 1000006, JP
优先权数据:
2017-16816801.09.2017JP
标题 (EN) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ DE TEST NON DESTRUCTIF ET INSTRUMENT DE TEST NON DESTRUCTIF
(JA) 非破壊検査方法及び非破壊検査装置
摘要:
(EN) According to the present invention, when the site of an abnormality in a sample is detected by measuring a magnetic field distribution generated by the flow of a current through the sample, even when there is movement of the same sample between one measurement of the sample and another measurement performed after time has passed, the positions of the magnetic field distribution respectively obtained through the two measurements are adjusted. In this nondestructive test method: magnetic marks 15a, 15b, 15c are formed on one sample 1; one measurement, and another measurement performed after time has passed, are subsequently performed on the one sample; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the one measurement is measured; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the other measurement is measured; and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the one measurement and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the other measurement are caused to conform to magnetic field detection coordinates of the magnetic marks.
(FR) Selon la présente invention, lorsque le site d'une anomalie dans un échantillon est détecté par mesure d'une distribution de champ magnétique générée par la circulation d'un courant à travers l'échantillon, même lorsqu'il y a un mouvement de cet échantillon entre une mesure de l'échantillon et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, les positions de la distribution de champ magnétique obtenues respectivement par les deux mesures sont ajustées. L'invention concerne un procédé de test non destructif dans lequel des marques magnétiques 15a, 15b, 15c sont formées sur un échantillon 1 ; une mesure, et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, sont ensuite effectuées sur l'échantillon ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans la première mesure est mesurée ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans l'autre mesure est mesurée ; et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans la première mesure et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans l'autre mesure sont amenées à se conformer aux coordonnées de détection de champ magnétique des marques magnétiques.
(JA) 試料に電流を流して発生する磁場分布を測定して試料の異常箇所を検出するにあたり、同一試料についての一の測定と時間経過した後の他の測定との間に同試料の移動があっても、両測定によりそれぞれ得られた磁場分布の位置を整合させる。一の試料1に磁性マーク15a,15b,15cを形成した後、前記一の試料について一の測定と時間経過した後の他の測定とを行い、前記一の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記他の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記一の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標と、前記他の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標とを、前記磁性マークの磁場検出座標を一致させることにより対応させる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)