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1. (WO2019043865) SUSCEPTOR, EPITAXIAL GROWTH DEVICE, EPITAXIAL SILICON WAFER MANUFACTURING METHOD, AND EPITAXIAL SILICON WAFER
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公布号: WO/2019/043865 国际申请号: PCT/JP2017/031343
公布日: 07.03.2019 国际申请日: 31.08.2017
国际专利分类:
H01L 21/205 (2006.01) ,C23C 16/458 (2006.01) ,C30B 25/12 (2006.01) ,H01L 21/683 (2006.01)
H 电学
01
基本电气元件
L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
21
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
02
半导体器件或其部件的制造或处理
04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
18
器件有由周期表第Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
20
半导体材料在基片上的沉积,例如外延生长
205
应用气态化合物的还原或分解产生固态凝结物的,即化学沉积
C 化学;冶金
23
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C
金属材料的表面处理
16
通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积(CVD)工艺
44
以镀覆方法为特征的
458
在反应室中支承基体的方法
C 化学;冶金
30
晶体生长
B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
25
反应气体化学反应法的单晶生长,例如化学气相沉积生长
02
外延层生长
12
衬底夹持器或基座
H 电学
01
基本电气元件
L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
21
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
683
用于支承或夹紧的
申请人:
株式会社SUMCO SUMCO CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区芝浦一丁目2番1号 2-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku Tokyo 1058634, JP
发明人:
楢原 和宏 NARAHARA Kazuhiro; JP
代理人:
杉村 憲司 SUGIMURA Kenji; JP
优先权数据:
标题 (EN) SUSCEPTOR, EPITAXIAL GROWTH DEVICE, EPITAXIAL SILICON WAFER MANUFACTURING METHOD, AND EPITAXIAL SILICON WAFER
(FR) SUSCEPTEUR, DISPOSITIF DE CROISSANCE ÉPITAXIALE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE TRANCHE DE SILICIUM ÉPITAXIALE, ET TRANCHE DE SILICIUM ÉPITAXIALE
(JA) サセプタ、エピタキシャル成長装置、エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法、ならびにエピタキシャルシリコンウェーハ
摘要:
(EN) Provided is a susceptor with which it is possible to increase the circumferential uniformity of the flatness of an epitaxial layer of an epitaxial silicon wafer. A susceptor 100 according to the present invention has a recessed counterbore portion for placing a silicon wafer W, wherein a radial distance L between the center of the susceptor and an opening edge of the counterbore portion varies in the circumferential direction with a period of 90. If the angle of the position at which the radial distance L is a minimum is defined as 0°, the radial distance L has a minimum value L1 at 90°, 180°, and 270°, and the radial distance L has a maximum value L2 at 45°, 135°, 225°, and 315°. The susceptor 100, as viewed from above, has an opening edge 110C defining four elliptic arcs protruding radially outward.
(FR) L'invention concerne un suscepteur avec lequel il est possible d'augmenter l'uniformité circonférentielle de la planéité d'une couche épitaxiale d'une tranche de silicium épitaxiale. Un suscepteur 100 selon la présente invention comprend une partie de lamage en creux pour placer une tranche de silicium W, une distance radiale L entre le centre du suscepteur et un bord d'ouverture de la partie de lamage variant dans la direction circonférentielle selon une période de 90. Si l'angle de la position à laquelle la distance radiale L est un minimum est défini comme 0°, la distance radiale L a une valeur minimale L1 à 90°, 180°, et 270°, et la distance radiale L a une valeur maximale L2 à 45°, 135°, 225° et 315°. Le suscepteur 100, vu de dessus, possède un bord d'ouverture 110C définissant quatre arcs elliptiques faisant saillie radialement vers l'extérieur.
(JA) エピタキシャルシリコンウェーハのエピタキシャル層の平坦度の周方向均一性を高めることのできるサセプタを提供する。 本発明によるサセプタ100は、シリコンウェーハWが載置される凹形状の座ぐり部が設けられ、サセプタの中心と座ぐり部の開口縁との間の径方向距離Lが90度周期で周方向に変動するとともに、径方向距離Lが最小となる位置の角度を0度としたときに、90度、180度、270度のそれぞれで径方向距離Lが最小値Lとなると共に、45度、135度、225度、315度のそれぞれで径方向距離Lが最大値Lとなり、サセプタ100を上面視したときの開口縁110Cが、径方向外側を凸とする4つの楕円弧を描く。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)