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1. (WO2019043733) MAGNETICALLY AUGMENTED PLASMONIC TWEEZERS
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2019/043733 国际申请号: PCT/IN2018/050566
公布日: 07.03.2019 国际申请日: 03.09.2018
国际专利分类:
G01N 21/01 (2006.01) ,G01N 21/62 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
21
利用光学手段,即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
01
便于进行光学测试的装置或仪器
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
21
利用光学手段,即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
申请人:
INDIAN INSTITUTE OF SCIENCE [IN/IN]; Office of Intellectual Property and Technology Licensing, Karnataka Bangalore 560 012, IN
发明人:
GHOSH, Souvik; IN
GHOSH, Ambarish; IN
代理人:
LAKSHMIKUMARAN, Malathi; IN
PHILLIPS, Prashant; IN
RAE, Konpal; IN
PANDEYA, Jaya; IN
SRINIVASAN, T.; IN
优先权数据:
20174103113901.09.2017IN
标题 (EN) MAGNETICALLY AUGMENTED PLASMONIC TWEEZERS
(FR) PINCES PLASMONIQUES MAGNÉTIQUEMENT AUGMENTÉES
摘要:
(EN) The present subject matter described herein relates to a Magnetically Augmented Plasmonic Tweezer (MAPT), a method for fabrication of the MAPT, and a method for trapping and maneuvering one or more colloidal particles inside a fluid. The fluid may correspond to a fluid inside a microfluidic device or a biological fluid. The MAPT can comprise a helical support structure to provide maneuverability in fluid. Further, a magnetic component is integrated in the MAPT for motion control. Plasmonic nanostructures are integrated in the MAPT for optical trapping of particles.
(FR) La présente invention concerne des pinces plasmoniques magnétiquement augmentées (MAPT), un procédé de fabrication des MAPT, et un procédé pour piéger et manipuler une ou plusieurs particules colloïdales à l’intérieur d’un fluide. Le fluide peut correspondre à un fluide à l’intérieur d’un dispositif microfluidique ou d’un fluide biologique. Les MAPT peuvent comprendre une structure de support hélicoïdale pour permettre une manipulabilité dans un fluide. En outre, un composant magnétique est intégré dans les MAPT pour une commande de mouvement. Des nanostructures plasmoniques sont intégrées dans les MAPT pour le piégeage optique de particules.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)