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1. (WO2019031045) PARAMETER ESTIMATION METHOD AND X-RAY CT SYSTEM
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2019/031045 国际申请号: PCT/JP2018/021911
公布日: 14.02.2019 国际申请日: 07.06.2018
国际专利分类:
A61B 6/03 (2006.01)
A 人类生活必需
61
医学或兽医学;卫生学
B
诊断;外科;鉴定
6
用于放射诊断的仪器,如与放射治疗设备相结合的
02
依次在不同平面中诊断的仪器;立体放射诊断的
03
用电子计算机处理的层析X射线摄影机
申请人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
发明人:
横井 一磨 YOKOI Kazuma; JP
代理人:
特許業務法人磯野国際特許商標事務所 ISONO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, P.C.; 東京都港区虎ノ門一丁目1番18号 ヒューリック虎ノ門ビル Hulic Toranomon Building, 1-18, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
优先权数据:
2017-15523210.08.2017JP
标题 (EN) PARAMETER ESTIMATION METHOD AND X-RAY CT SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE PARAMÈTRE ET SYSTÈME DE TOMOGRAPHIE ASSISTÉE PAR ORDINATEUR (CT) PAR RAYONS X
(JA) パラメータ推定方法及びX線CTシステム
摘要:
(EN) The present invention is characterized by having an X-ray CT device, and a calculation device that reconstructs an image by using a projection-based method, wherein the calculation device sets a coordinate space that has, as coordinate axes, base substance thicknesses and the likelihood of each of the base substance thicknesses, performs a first search for searching for a first estimated thickness (308) at which the likelihood is greatest in the direction perpendicular to the ridge direction of a likelihood contour line (300), by starting with an estimated thickness input value (301) set in the coordinate space, on the basis of an X-ray attenuation response, performs a second search for searching for a second estimated thickness (309) at which the likelihood is greatest, by starting with a shifted start point (304) set to a position shifted from the estimated thickness input value (301), and performs a third search for searching for an estimated thickness output value (312) by performing the third search for searching for the maximum likelihood estimator at which the likelihood becomes highest on a line that connects the first estimated thickness (308) and the second estimated thickness (309).
(FR) La présente invention est caractérisée en ce qu'elle comprend un dispositif de tomographie assistée par ordinateur (CT) par rayons X, et un dispositif de calcul qui reconstruit une image au moyen d'un procédé basé sur une projection, le dispositif de calcul définissant un espace de coordonnées qui a, en tant qu'axes de coordonnées, des épaisseurs de substance de base et la vraisemblance de chacune des épaisseurs de substance de base, effectue une première recherche pour rechercher une première épaisseur estimée (308) à laquelle la vraisemblance est la plus élevée dans la direction perpendiculaire à la direction de crête d'une ligne de contour de vraisemblance (300), en commençant par une valeur d'entrée d'épaisseur estimée (301) réglée dans l'espace de coordonnées, sur la base d'une réponse d'atténuation de rayons X, effectue une deuxième recherche pour rechercher une seconde épaisseur estimée (309) à laquelle la vraisemblance est la plus élevée, en commençant par un point de départ décalé (304) réglé à une position décalée par rapport à la valeur d'entrée d'épaisseur estimée (301), et effectue une troisième recherche pour rechercher une valeur de sortie d'épaisseur estimée (312) en effectuant la troisième recherche pour rechercher l'estimateur de vraisemblance maximale auquel la vraisemblance devient la plus élevée sur une ligne qui relie la première épaisseur estimée (308) et la seconde épaisseur estimée (309).
(JA) X線CT装置と、投影ベース法を用いることにより画像を再構成する演算装置と、を有し、演算装置は、各基底物質厚さと、基底物質厚さの尤度とを座標軸として有する座標空間を設定し、X線減弱応答に基づいて、座標空間に設定された推定厚さ入力値(301)を起点とし、尤度等高線(300)の尾根方向と直角の方向において、尤度が最も大きくなる第1推定厚さ(308)を探索する第1サーチを行い、推定厚さ入力値(301)からシフトした位置に設定されたシフト始点(304)を起点として、尤度が最も大きくなる第2推定厚さ(309)を探索する第2サーチを行い、第1推定厚さ(308)及び第2推定厚さ(309)を結ぶライン上において、尤度が最も高くなる最尤推定量を探索する第3サーチを行うことで、推定厚さ出力値(312)を探索する第3サーチを行うことを特徴とする。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)