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1. (WO2019025036) OPTICAL SYSTEM FOR MICROLITHOGRAPHY
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公布号: WO/2019/025036 国际申请号: PCT/EP2018/057865
公布日: 07.02.2019 国际申请日: 28.03.2018
国际专利分类:
G03F 7/20 (2006.01)
G PHYSICS
03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
7
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
20
曝光及其设备
申请人:
GROSSMANN, Jan [DE/DE]; DE (US)
CARL ZEISS SMT GMBH [DE/DE]; Rudolf-Eber-Strasse 2 73447 Oberkochen, DE (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JO, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
发明人:
GROSSMANN, Jan; DE
代理人:
FRANK, Hartmut; DE
优先权数据:
10 2017 213 121.731.07.2017DE
标题 (EN) OPTICAL SYSTEM FOR MICROLITHOGRAPHY
(FR) SYSTÈME OPTIQUE POUR LA MICROLITHOGRAPHIE
(DE) OPTISCHES SYSTEM FÜR DIE MIKROLITHOGRAPHIE
摘要:
(EN) The invention relates to an optical system for microlithography, the optical system being designed for operation with electromagnetic radiation, which passes through the optical system along a useful beam path, having at least one component (105) which has a region situated outside the useful beam path, said region having a catalytically or chemically active layer (110), and the catalytically or chemically active layer (110) and/or a substrate (230, 240) supporting said layer (110) being porous.
(FR) L'invention concerne un système optique pour la microlithographie, le système optique étant conçu pour un fonctionnement par rayonnement électromagnétique, ledit système optique parcourt un trajet optique utile, comprenant au moins un élément (105) qui présente une zone se trouvant hors du trajet optique utile, cette zone présentant une couche catalytiquement ou chimiquement active (110), et la couche catalytiquement ou chimiquement active (1 10) et/ou un support (230, 240) portant cette couche (110) étant poreux.
(DE) Die Erfindung betrifft ein optisches System für die Mikrolithographie, wobei das optische System für einen Betrieb mit elektromagnetischer Strahlung ausgelegt ist, welche das optische System entlang eines Nutzstrahlengangs durchläuft, mit wenigstens einer Komponente (105), welche einen außerhalb des Nutzstrahlengangs befindlichen Bereich aufweist, wobei dieser Bereich eine katalytische oder chemisch aktive Schicht (110) aufweist, und wobei die katalytische oder chemisch aktive Schicht (110) und/oder ein diese Schicht (110) tragender Träger (230, 240) porös ist.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 德语 (DE)
申请语言: 德语 (DE)