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1. (WO2019009316) MULTILAYER FILM STACK
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公布号: WO/2019/009316 国际申请号: PCT/JP2018/025294
公布日: 10.01.2019 国际申请日: 04.07.2018
国际专利分类:
G02B 5/30 (2006.01) ,B32B 7/02 (2006.01) ,B32B 27/08 (2006.01) ,G02F 1/1335 (2006.01)
G PHYSICS
02
光学
B
光学元件、系统或仪器
5
除透镜外的光学元件
30
偏振元件
B 作业;运输
32
层状产品
B
层状产品,即由扁平的或非扁平的薄层,例如泡沫状的、蜂窝状的薄层构成的产品
7
以薄层之间的联系为特征的层状产品,即基本上包含具有不同物理性质薄层的产品,或以薄层之间的相互连接为特征的产品
02
关于物理性质,如硬度
B 作业;运输
32
层状产品
B
层状产品,即由扁平的或非扁平的薄层,例如泡沫状的、蜂窝状的薄层构成的产品
27
实质上由合成树脂组成的层状产品
06
作为薄层的主要或惟一的成分,它与另一层由一种特定物质构成的薄层相贴
08
不同种类合成树脂的
G PHYSICS
02
光学
F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
1
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
1333
构造上的设备
1335
与液晶单元结构相连的光学装置,例如偏振器、反射器
申请人:
帝人フィルムソリューション株式会社 TEIJIN FILM SOLUTIONS LIMITED [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関三丁目2番1号 2-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku Tokyo 1000013, JP
发明人:
廣瀬 周 HIROSE Amane; JP
東條 光峰 TOJO Mitsuo; JP
代理人:
為山 太郎 TAMEYAMA, Taro; JP
优先权数据:
2017-13370307.07.2017JP
标题 (EN) MULTILAYER FILM STACK
(FR) EMPILEMENT DE FILM MULTICOUCHE
(JA) 多層積層フィルム
摘要:
(EN) A multilayer film stack includes: a multilayered stack structure wherein a first layer containing a first resin and a second layer containing a second resin are alternately stacked; and a thick film layer in contact with the multilayered stack structure. The multilayered stack structure includes a layer thickness profile that has a repeating unit made up of a single first layer and a single second layer having a physical thickness. The layer thickness profile includes a region of monotonically-increasing thickness and a thin layer region. The thin layer region has at least three repeating units. A ratio L2/L1 is 0.85 or less and a ratio A2/L1 is 0.70 or less where L1 represents the maximum thickness of the repeating units in the region of monotonically-increasing thickness, L2 represents the maximum thickness of the repeating units in the thin layer region, and A2 represents an average thickness in the thin layer region. The thin layer region is located on the thicker portion side of the region of monotonically-increasing thickness to come in contact with the thick film layer.
(FR) La présente invention concerne un empilement de film multicouche qui comprend : une structure d’empilement multicouche dans laquelle une première couche contenant une première résine et une deuxième couche contenant une deuxième résine sont empilées en alternance ; et une couche de film épaisse en contact avec la structure d’empilement multicouche. La structure d’empilement multicouche comprend un profil d’épaisseur de couche qui comporte un motif de répétition constitué d’une première couche unique et d’une deuxième couche unique ayant une épaisseur physique. Le profil d’épaisseur de couche comprend une région d’épaisseur augmentant de façon monotone et une région de couche mince. La région de couche mince comporte au moins trois motifs de répétition. Un rapport L2/L1 est de 0,85 ou moins et un rapport A2/L1 est de 0,70 ou moins, où L1 représente l’épaisseur maximale des motifs de répétition dans la région d’épaisseur augmentant de façon monotone, L2 représente l’épaisseur maximale des motifs de répétition dans la région de couche mince, et A2 représente une épaisseur moyenne dans la région de couche mince. La région de couche mince est située sur le côté de la partie plus épaisse de la région d’épaisseur augmentant de façon monotone de façon à venir en contact avec la couche de film épaisse.
(JA) 第1の樹脂を含む第1層と第2の樹脂を含む第2層とが交互に積層した多層積層構造と、それに接した厚膜層とを有しており、前記多層積層構造は、1つの第1層と1つの第2層とを有する繰返し単位の物理厚みでの層厚みプロファイルを有し、当該層厚みプロファイルは厚み単調増加領域と薄層領域とを有し、前記薄層領域は、少なくとも3つの繰り返し単位を有し、薄層領域における繰り返し単位の最大厚みをL2として、厚み単調増加領域における繰り返し単位の最大厚みL1との比L2/L1が0.85以下であり、且つ、薄層領域の平均厚みをA2として、厚み単調増加領域における繰り返し単位の最大厚みL1との比A2/L1が0.70以下である領域であり、前記薄層領域が厚み単調増加領域の厚みが厚い側にあり、そして厚膜層と接するように存在する、多層積層フィルム。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)