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1. (WO2018190013) ION ANALYSIS DEVICE AND ION DISSOCIATION METHOD
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/190013 国际申请号: PCT/JP2018/007346
公布日: 18.10.2018 国际申请日: 27.02.2018
国际专利分类:
H01J 49/42 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01)
H 电学
01
基本电气元件
J
放电管或放电灯
49
粒子分光仪或粒子分离管
26
质谱仪或质量分离管
34
动态分光仪
42
轨迹稳定型分光仪,如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
27
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
62
通过测试气体的电离,通过测试放电,例如阴极发射
申请人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
发明人:
高橋 秀典 TAKAHASHI, Hidenori; JP
山内 祥聖 YAMAUCHI, Shosei; JP
代理人:
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
优先权数据:
2017-07774710.04.2017JP
标题 (EN) ION ANALYSIS DEVICE AND ION DISSOCIATION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'IONS ET PROCÉDÉ DE DISSOCIATION D'IONS
(JA) イオン分析装置及びイオン解離方法
摘要:
(EN) Precursor ions are trapped inside an ion trap (2), after which electrons having a high energy of 30 eV or more are introduced from an electron irradiation unit (7) into the ion trap (2), thereby increasing the valence of the ions by the mutual action between the electrons and the ions. Subsequently, hydrogen radicals are input from a hydrogen radical irradiation unit (5) into the ion trap (2) and the ions are dissociated by the HAD method. In the HAD method, higher valence of the ions results in a higher dissociation efficiency. Thus, even when using an ion source such as, for example, an MALDI ion source in which almost only monovalent ions are generated, it is possible to enhance the dissociation efficiency by increasing the valence of the precursor ions inside the ion trap (2).
(FR) Des ions précurseurs sont piégés à l'intérieur d'un piège (2) à ions, puis des électrons présentant une énergie élevée d'au moins 30 eV sont introduits dans le piège (2) à ions à partir d'une unité (7) d'irradiation d'électrons, accroissant ainsi la valence des ions par l'action mutuelle entre les électrons et les ions. Ensuite, des radicaux hydrogène sont introduits dans le piège (2) à ions à partir d'une unité (5) d'irradiation de radicaux hydrogène et les ions sont dissociés par le procédé HAD. Dans le procédé HAD, une valence plus élevée des ions se traduit par un rendement de dissociation plus élevé. Ainsi, même lors de l'utilisation d'une source d'ions, comme par exemple une source d'ions MALDI, dans laquelle sont générés presque exclusivement des ions monovalents, il est possible de renforcer le rendement de dissociation en accroissant la valence des ions précurseurs à l'intérieur du piège (2) à ions.
(JA) イオントラップ(2)の内部にプリカーサイオンを捕捉したあと、電子照射部(7)から30eV 以上の高エネルギーの電子をイオントラップ(2)内に導入し、電子とイオンとの相互作用により該イオンの価数を増加させる。引き続き、水素ラジカル照射部(5)から水素ラジカルをイオントラップ(2)内に入し、HAD法によりイオンを解離させる。HAD法ではイオンの価数が高いほうが解離効率が高い。そのため、例えばMALDIイオン源のように殆ど1価であるイオンしか生成されないイオン源を用いる場合であっても、イオントラップ(2)内でプリカーサイオンの価数を増加させて解離効率を高めることができる。
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公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)