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1. (WO2018163755) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/163755 国际申请号: PCT/JP2018/005385
公布日: 13.09.2018 国际申请日: 16.02.2018
国际专利分类:
G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,H01R 33/76 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
R
测量电变量;测量磁变量
31
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置
26
单个半导体器件的测试
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
R
测量电变量;测量磁变量
1
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件
02
一般结构零部件
06
测量引线;测量探针
067
测量探针
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
R
测量电变量;测量磁变量
1
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件
02
一般结构零部件
06
测量引线;测量探针
067
测量探针
073
多个探针
H 电学
01
基本电气元件
R
导电连接;一组相互绝缘的电连接元件的结构组合;连接装置;集电器
33
连接装置,专用于支承设备并具有作为夹持器的一个部件,该夹持器通过与该设备结构上相关的一个配合部件来提供支承和电连接,例如灯夹持器;其个别部件(配合件与特殊设备的结构联结见该设备的有关小类)
74
有四极或更多极的装置
76
有插座、夹子或类似接触件的,用来与配对件上平行安排的插销、插刀或类似的接触件作轴向滑动接合的支座,例如电子管插座
申请人:
山一電機株式会社 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 東京都大田区南蒲田2-16-2 2-16-2, Minamikamata, Ota-ku Tokyo 1448581, JP
发明人:
鈴木 勝己 SUZUKI Katsumi; JP
齋藤 朋徳 SAITO Tomonori; JP
优先权数据:
2017-04665210.03.2017JP
标题 (EN) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
(FR) MÉCANISME DE POSITIONNEMENT DESTINÉ À UNE BORNE D'INSPECTION KELVIN ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ ÉQUIPÉE DE CE DERNIER
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
摘要:
(EN) This positioning mechanism for a Kelvin inspection terminal makes it possible to simply assemble a Kelvin inspection terminal together with an IC socket and enhance the accuracy of the positioning of the Kelvin inspection terminal in relation to semiconductor device electrode parts. A mounting base 20 for an object of inspection has a plurality of holes 20ai into which electrode parts DVa of a semiconductor device DV are inserted and by which the electrode parts DVa are positioned. The bottom parts of the holes 20ai have, formed in two locations, through holes 20d into which device plungers 12 for each probe 10 are inserted.
(FR) Selon la présente invention, ce mécanisme de positionnement destiné à une borne d'inspection Kelvin permet d'assembler simplement une borne d'inspection Kelvin avec un support de circuit intégré et d'améliorer la précision du positionnement de la borne d'inspection Kelvin par rapport aux parties d'électrode de dispositif semi-conducteur. Une base de montage (20) destinée à un objet d'inspection a une pluralité de trous (20a) dans lesquels des parties d'électrode (DVa) d'un dispositif semi-conducteur (DV) sont insérées et par lesquelles les parties d'électrode (DVa) sont positionnées. Les parties inférieures des trous (20ai) présentent, sur deux emplacements, des trous traversants (20d) dans lesquels des plongeurs de dispositif (12) destinés à chaque sonde (10) sont insérés.
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構において、ケルビン検査用端子をICソケットに簡単に組み付けることができ、しかも、ケルビン検査用端子の半導体装置の電極部に対する位置決め精度を向上させることができる。被検査物搭載台20は、半導体装置DVの各電極部DVaが挿入され位置決めされる複数の孔20aiを有し、孔20aiの底部には、各プローブ10のデバイス用プランジャー12が挿入される貫通孔20dが2箇所に形成されているもの。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)