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1. (WO2018162048) TEST APPARATUS AND METHOD FOR CHARACTERIZING A DEVICE UNDER TEST
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公布号: WO/2018/162048 国际申请号: PCT/EP2017/055370
公布日: 13.09.2018 国际申请日: 07.03.2017
国际专利分类:
G06F 11/36 (2006.01) ,G06F 11/22 (2006.01)
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
F
电数字数据处理
11
错误检测;错误校正;监控
36
通过软件的测试或调试防止错误
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
F
电数字数据处理
11
错误检测;错误校正;监控
22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
申请人:
RIVOIR, Jochen [DE/DE]; DE (US)
ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-6-2, Marunouchi, Chiyoda-ku Tokyo, 100-0005, JP (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
发明人:
RIVOIR, Jochen; DE
代理人:
BURGER, Markus; DE
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
优先权数据:
标题 (EN) TEST APPARATUS AND METHOD FOR CHARACTERIZING A DEVICE UNDER TEST
(FR) APPAREIL D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UN DISPOSITIF À L'ESSAI
摘要:
(EN) A test apparatus (2) for characterizing a device under test (4) is shown. The test apparatus (2) comprises a test case generator (6), a test unit (8), a data storage unit (10), and a data analysis unit (12). The test case generator (6) is configured to randomly generate a plurality of test cases (14), wherein a test case (14) comprises values of one or more input variables (16a), (16) of a set of input variables (16). The test unit (8) is configured to perform the plurality of test cases (14) on the device under test (4). Moreover, the data storage unit may store sets of test data (18), wherein the sets of test data (18) are associated to the test cases (14) and wherein the sets of test data (18) comprise values of input variables of a respective test case and corresponding values of output variables of the device under test (4) related to the respective test case. The data analysis unit (12) may further analyze the test data (18), wherein the data analysis unit (12) is further configured to determine dependencies within a subset of variables of the test data (18) to characterize the device under test.
(FR) L'invention concerne un appareil d'essai (2) permettant de caractériser un dispositif à l'essai (4). L'appareil d'essai (2) comprend un générateur de cas type (6), une unité de test (8), une unité de stockage de données (10) et une unité d'analyse de données (12). Le générateur de cas type est configuré pour générer de manière aléatoire une pluralité de cas types (14), un cas type (14) comprenant les valeurs d'une ou de plusieurs variables d'entrée (16a, 16) d'un ensemble de variables d'entrée. L'unité d'essai (8) est configurée pour exécuter la pluralité de cas types (14) sur le dispositif à l'essai. De plus, l'unité de stockage de données peut stocker des ensembles de données d'essai (18), les ensembles de données d'essai (18) étant associés aux cas types (14) et les ensembles de données d'essai (18) comprenant les valeurs de variables d'entrée d'un cas type respectif ainsi que les valeurs correspondantes de variables de sortie du dispositif à l'essai (4) associé cas type respectif. L'unité d'analyse de données (12) peut également analyser les données d'essai (18), l'unité d'analyse de données (12) étant également configurée pour déterminer des dépendances dans un sous-ensemble de variables des données d'essai (18) afin de caractériser le dispositif à l'essai.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)