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1. (WO2018141917) METHOD FOR DIMENSIONAL X-RAY MEASUREMENT, IN PARTICULAR BY COMPUTED TOMOGRAPHY, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SCANNER
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/141917 国际申请号: PCT/EP2018/052686
公布日: 09.08.2018 国际申请日: 02.02.2018
国际专利分类:
G06T 5/00 (2006.01) ,G06T 11/00 (2006.01)
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
T
一般的图像数据处理或产生
5
图像的增强或复原,如从位像到位像地建立一个类似的图形
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
T
一般的图像数据处理或产生
11
两维(2D)图像的发生,例如从一个绘图到一个位像图
申请人:
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND, vertreten durch das BUNDESMINISTERIUM FÜR WIRTSCHAFT UND ENERGIE, dieses vertreten durch den PRÄSIDENTEN DER PHYSIKALISCH-TECHNISCHEN BUNDESANSTALT [DE/DE]; Bundesallee 100 38116 Braunschweig, DE
发明人:
ILLEMANN, Jens; DE
BARTSCHER, Markus; DE
代理人:
GRAMM, LINS & PARTNER PATENT- UND RECHTSANWÄLTE PARTGMBB; Theodor-Heuss-Straße 1 38122 Braunschweig, DE
优先权数据:
10 2017 102 254.606.02.2017DE
标题 (DE) VERFAHREN ZUM DIMENSIONELLEN RÖNTGENOGRAPHISCHEN MESSEN, INSBESONDERE MITTELS COMPUTERTOMOGRAPHIE, UND RÖNTGEN-COMPUTERTOMOGRAPH
(EN) METHOD FOR DIMENSIONAL X-RAY MEASUREMENT, IN PARTICULAR BY COMPUTED TOMOGRAPHY, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SCANNER
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DIMENSIONNELLE PAR RAYONS X, EN PARTICULIER PAR TOMODENSITOMÉTRIE ET TOMODENSITOMÈTRE À RAYONS X
摘要:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum dimensioneilen röntgenographischen Messen, insbesondere mittels Computertomographie, mit den Schritten (a) Bestrahlen eines Prüflings (26) mit nicht-monochromatischer Röntgenstrahlung einer quasi-punktförmigen Röntgenquelle (12), (b) Messen von Intensität (I) der Röntgenstrahlung (22) im Strahlungspfad hinter dem Prüfling (26) mittels eines Detektors (14), der eine Vielzahl an Pixeln (P) aufweist, sodass pixelabhängige Intensitätsdaten (l(P)) erhalten werden, und (c) Berechnen zumindest einer Abmessung (H) des Prüflings (26) anhand der pixelabhängigen Intensitätsdaten (l(P)). Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die pixelabhängigen Intensitätsdaten (l(P)) um den Einfluss einer effektiven Eindringtiefe (τ) auf dem Detektor (14) und/oder einer Verschiebung des effektiven Quellorts (Q) auf einem Target (20) der Röntgenquelle (12) korrigiert werden.
(EN) The invention relates to a method for dimensional x-ray measurement, in particular by computed tomography, having the steps (a) irradiating a test object (26) with non-monochromatic x-ray radiation from a virtually punctiform x-ray source (12), (b) measuring the intensity (I) of the x-ray radiation (22) in the radiation path behind the test object (26) by means of a detector (14) which has a plurality of pixels (P) to obtain pixel-dependent intensity data (I(P)), and (c) calculating at least one dimension (H) of the test object (26) using the pixel-dependent intensity data (I(P)). According to the invention, the pixel-dependent intensity data (I(P)) are corrected by the influence of an effective penetration depth (τ) on the detector (14) and/or of a displacement of the effective source location (Q) on a target (20) of the x-ray source (12).
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure dimensionnelle par rayons X, en particulier par tomodensitométrie, comprenant les étapes consistant à : (a) irradier un objet d'essai (26) par des rayons X non-monochromatiques d'une source de rayons X (12) en forme de quasi-point ; (b) mesurer l'intensité (I) des rayons X (22) dans le trajet du rayonnement derrière l'objet d'essai (26) au moyen d'un détecteur (14), lequel comporte une pluralité de pixels (P), de telle sorte que les données d'intensité dépendant du pixel (l (P)) sont obtenus ; et (c) calculer au moins une dimension (H) de l'objet d'essai (26) à l'aide des données d'intensité dépendant du pixel (I(P)). Selon l'invention, les données d'intensité dépendant du pixel (l(p)) sont corrigées en fonction de l'influence d'une profondeur de pénétration (τ) effective sur le détecteur (14) et/ou d'un déplacement de l'emplacement de la source (Q) effectif par rapport à une cible (20) de la source de rayons X (12).
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 德语 (DE)
申请语言: 德语 (DE)