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1. (WO2018128059) METHOD FOR INSPECTING GLASS PLATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, AND DEVICE FOR INSPECTING GLASS PLATE
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/128059 国际申请号: PCT/JP2017/044689
公布日: 12.07.2018 国际申请日: 13.12.2017
国际专利分类:
G01N 21/896 (2006.01) ,G01B 11/24 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
21
利用光学手段,即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
84
专用于特殊应用的系统
88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
896
透明材料之中或表面的光学缺陷,例如形变、表面瑕疵
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
11
以采用光学方法为特征的计量设备
24
用于计量轮廓或曲率
申请人:
日本電気硝子株式会社 NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD. [JP/JP]; 滋賀県大津市晴嵐2丁目7番1号 7-1, Seiran 2-chome, Otsu-shi, Shiga 5208639, JP
发明人:
久良木 正福 KYURAGI Masafuku; JP
山本 浩一 YAMAMOTO Koichi; JP
山本 正善 YAMAMOTO Masayoshi; JP
南 友和 MINAMI Tomokazu; JP
吉野 敬一 YOSHINO Keiichi; JP
藤居 孝英 FUJII Takahide; JP
代理人:
城村 邦彦 SHIROMURA Kunihiko; JP
熊野 剛 KUMANO Tsuyoshi; JP
友廣 真一 TOMOHIRO Shin-ichi; JP
优先权数据:
2017-00118606.01.2017JP
标题 (EN) METHOD FOR INSPECTING GLASS PLATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, AND DEVICE FOR INSPECTING GLASS PLATE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UNE PLAQUE DE VERRE, SON PROCÉDÉ DE FABRICATION, ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE PLAQUE DE VERRE
(JA) ガラス板の検査方法及びその製造方法並びにガラス板の検査装置
摘要:
(EN) The present invention has disposed therein: a first imaging system 2 having a first light source 5, a first imaging unit 6 that captures a first transmitted light L1 that is emitted from the first light source 5 and passes through a glass plate G, and a shielding plate 7 that shields a portion of the first transmitted light L1 to form a bright portion and a dark portion in the field of view of the first imaging unit 6; and a second imaging system 3 that has a second light source 8 and a third light source 9, and a second imaging unit 10 that, while capturing, in a bright field, a second transmission light L2 that is emitted from the second light source 8 and passes through the glass plate G, captures, in a dark field, a third transmission light L3 that is emitted from the third light source 9 and passes through the glass plate G. The present invention sorts the types of defects of the glass plate G on the basis of images obtained by the first imaging system 2 and images obtained by the second imaging system 3.
(FR) La présente invention comprend : un premier système d'imagerie (2) comportant une première source de lumière (5), d'une première unité d'imagerie (6) qui capture une première lumière transmise (L1) émise à partir de la première source de lumière (5) et traversant une plaque de verre (G), et une plaque de protection (7) protégeant une partie de la première lumière transmise (L1) pour former une partie lumineuse et une partie sombre dans le champ de vision de la première unité d'imagerie (6) ; et un second système d'imagerie (3) comportant une deuxième source de lumière (8) et une troisième source de lumière (9), et une seconde unité d'imagerie (10) qui, tout en capturant, dans un champ lumineux, une seconde lumière de transmission (L2) qui est émise à partir de la deuxième source de lumière (8) et traverse la plaque de verre (G), capture, dans un champ sombre, une troisième lumière de transmission (L3) qui est émise à partir de la troisième source de lumière (9) et traverse la plaque de verre (G). La présente invention trie les types de défauts de la plaque de verre (G) en fonction des images obtenues par le premier système d'imagerie (2) et des images obtenues par le second système d'imagerie (3).
(JA) 第一光源5と、第一光源5から照射されてガラス板Gを透過した第一透過光L1を撮像する第一撮像部6と、第一透過光L1の一部を遮蔽して第一撮像部6の視野内に明部と暗部を形成する遮蔽板7とを有する第一撮像系2と、第二光源8及び第三光源9と、第二光源8から照射されてガラス板Gを透過した第二透過光L2を明視野で撮像しながら第三光源9から照射されてガラス板Gを透過した第三透過光L3を暗視野で撮像する第二撮像部10とを有する第二撮像系3とを配置し、第一撮像系2で得られた像と第二撮像系3で得られた像とに基づいてガラス板Gの欠陥の種類を識別する。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)