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1. (WO2018123298) AUTOMATED INSPECTION SYSTEM AND AUTOMATED INSPECTION METHOD
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/123298 国际申请号: PCT/JP2017/040740
公布日: 05.07.2018 国际申请日: 13.11.2017
国际专利分类:
G08C 19/00 (2006.01) ,G08C 15/00 (2006.01) ,G08C 17/02 (2006.01) ,H04Q 9/00 (2006.01)
G PHYSICS
08
信号装置
C
测量值、控制信号或类似信号的传输系统
19
电信号传输系统
G PHYSICS
08
信号装置
C
测量值、控制信号或类似信号的传输系统
15
以使用的多路传输为特征的装置,该多路传输用于在一公共通道上传输多个信号
G PHYSICS
08
信号装置
C
测量值、控制信号或类似信号的传输系统
17
按采用的无导线电气线路表征的信号传送装置
02
用无线电线路
H 电学
04
电通信技术
Q
选择
9
用于从主局选择地呼叫一个分局的遥控或遥测系统的装置,在主局选出分局所需的设备是为了向它发出控制信号或从它获得测量值
申请人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
株式会社日立産業制御ソリューションズ HITACHI INDUSTRY & CONTROL SOLUTIONS, LTD. [JP/JP]; 茨城県日立市大みか町五丁目1番26号 1-26, Omika-cho 5-chome, Hitachi-shi, Ibaraki 3191221, JP
发明人:
佐々木 麗双 SASAKI Reiso; JP
西村 卓真 NISHIMURA Takuma; JP
柏原 広茂 KASHIWABARA Hiroshige; JP
大畠 丈嗣 OHHATA Taketsugu; JP
木戸 眞一郎 KIDO Shinichiro; JP
代理人:
特許業務法人信友国際特許事務所 SHIN-YU INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都渋谷区笹塚2-1-6 笹塚センタービル Sasazuka Center Bldg., 2-1-6, Sasazuka, Shibuya-ku, Tokyo 1510073, JP
优先权数据:
2016-25364127.12.2016JP
标题 (EN) AUTOMATED INSPECTION SYSTEM AND AUTOMATED INSPECTION METHOD
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ D'INSPECTION AUTOMATISÉ
(JA) 自動点検システムおよび自動点検方法
摘要:
(EN) Provided is an automated inspection system that uses a wireless network comprising: wireless inferior stations comprising image capture units which photograph measurement devices that measure physical quantities of objects to be inspected; and wireless superior stations which receive, from the wireless inferior stations, image data obtained through photography by the image capture units. The wireless inferior stations further comprise: binarization units which binarize the image data to generate binarized image data; reduction units which cut out, from the binarized image data, image data corresponding to measurement value sections of the measurement devices; and transmission units which transmit to the wireless superior stations the measurement value section image data having been cut out.
(FR) L'invention concerne un système d'inspection automatisé faisant appel à un réseau sans fil comprenant : des stations inférieures sans fil comprenant des unités de capture d'image qui photographient des dispositifs de mesure qui mesurent des quantités physiques d'objets à inspecter; et des stations supérieures sans fil qui reçoivent, des stations inférieures sans fil, des données d'image obtenues par photographie par les unités de capture d'image. Les stations inférieures sans fil comprennent en outre : des unités de binarisation qui binarisent les données d'image pour générer des données d'image binarisées; des unités de réduction qui coupent, des données d'image binarisées, des données d'image correspondant à des sections de valeur de mesure des dispositifs de mesure; et des unités de transmission qui transmettent aux stations supérieures sans fil les données d'image de section de valeur de mesure qui ont été coupées.
(JA) 点検対象の物理量を計測する計測器を撮影する撮像部を有する無線子局と、撮像部で撮影して得た画像データを、無線子局から受信する無線親局とを含む無線ネットワークを用いた自動点検システムであり、無線子局は、画像データを二値化して二値化画像データを生成する二値化処理部と、二値化画像データのうち、計測器の計測値部分の画像データを切り出す軽量化処理部と、その切り出した計測値部分の画像データを無線親局に送信する送信部と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 日语 (JA)
申请语言: 日语 (JA)