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1. (WO2018005940) PIXELATED GAMMA DETECTOR
国际局存档的最新著录项目数据提交意见

公布号: WO/2018/005940 国际申请号: PCT/US2017/040232
公布日: 04.01.2018 国际申请日: 30.06.2017
国际专利分类:
G01T 1/20 (2006.01)
G PHYSICS
01
用于测量的传感器,如敏感元件
T
核辐射或X射线辐射的测量
1
Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16
辐射强度测量
20
用闪烁探测器
申请人:
GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345, US
发明人:
DOLINSKY, Sergei, Ivanovich; US
YANOFF, Brian, David; US
GUIDA, Renato; US
IVAN, Adrian; US
代理人:
POLLANDER, Laura, L.; US
MIDGLEY, Stephen, G.; US
DIMAURO, Peter, T.; US
WINTER, Catherine, J.; US
GNIBUS, Michael, M.; US
优先权数据:
15/198,50230.06.2016US
标题 (EN) PIXELATED GAMMA DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR GAMMA PIXELISÉ
摘要:
(EN) A pixelated gamma detector includes a scintillator column assembly (140) having scintillator crystals (120) and optical transparent elements (125) alternating along a longitudinal axis, a collimator assembly (110) having longitudinal walls separated by collimator septum (114), the collimator septum (114) spaced apart to form collimator channels (118), the scintillator column assembly (140) positioned adjacent to the collimator assembly (110) so that the respective ones of the scintillator crystal (120) are positioned adjacent to respective ones of the collimator channels (118), the respective ones of the optical transparent element (125) are positioned adjacent to respective ones of the collimator septum (114), and a first photosensor (150) and a second photosensor (155), the first and the second photosensor each connected to an opposing end of the scintillator column assembly (140). A system and a method for inspecting and/or detecting defects in an interior of an object are also disclosed.
(FR) La présente invention concerne un détecteur gamma pixelisé qui comprend un ensemble de colonnes de scintillateur (140) ayant des cristaux de scintillateur (120) et des éléments transparents optiques (125) alternant le long d'un axe longitudinal, un ensemble de collimateur (110) ayant des parois longitudinales séparées par un septum de collimateur (114), le septum de collimateur (114) étant espacé pour former des canaux de collimateur (118), l'ensemble de colonnes de scintillateur (140) étant en position adjacente à l'ensemble de collimateur (110) de sorte que les canaux respectifs du cristal de scintillateur (120) soient en position adjacente aux canaux respectifs des canaux de collimateur (118), les canaux respectifs de l'élément transparent optique (125) sont en position adjacente aux canaux respectifs du septum de collimateur (114), et un premier photocapteur (150) et un deuxième photocapteur (155), le premier et le deuxième photocapteur étant chacun connectés à une extrémité opposée de l'ensemble de colonnes de scintillateur (140). L'invention concerne en outre un système et un procédé d'inspection et/ou de détection de défauts à l'intérieur d'un objet.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)
也发表为:
CN109313277KR1020190022862EP3479146