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1. (WO2017001650) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
国际局存档的最新著录项目数据

公布号: WO/2017/001650 国际申请号: PCT/EP2016/065479
公布日: 05.01.2017 国际申请日: 01.07.2016
国际专利分类:
H04L 9/32 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01) ,G09C 1/00 (2006.01)
H 电学
04
电通信技术
L
数字信息的传输,例如电报通信
9
保密或安全通信装置
32
包括用于检验系统用户的身份或凭据的装置
H 电学
04
电通信技术
L
数字信息的传输,例如电报通信
9
保密或安全通信装置
06
使用移位寄存器或存储器用于块式码的密码装置,例如dES系统
08
密钥分配
G PHYSICS
09
教育;密码术;显示;广告;印鉴
C
用于密码或涉及保密需要的其他用途的编码或译码装置
1
通过对符号或符号组进行转换或者按照预定的系统用另外的符号来替代,将所给出的符号序列,例如可理解的原文,交换成不可理解的符号序列的装置或方法
申请人:
SECURE-IC SAS [FR/FR]; 15, rue Claude Chappe ZAC des Champs Blancs 35510 Cesson-Sévigné, FR
发明人:
DAFALI, Rachid; FR
DANGER, Jean-Luc; FR
GUILLEY, Sylvain; FR
LOZAC'H, Florent; FR
代理人:
HNICH-GASRI, Naïma; FR
优先权数据:
15306063.701.07.2015EP
标题 (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(FR) CIRCUIT D'ESSAI INCORPORÉ POUR UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON CLONABLE
摘要:
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(FR) L’invention concerne un circuit intégré au silicium comprenant une fonction physiquement non clonable (PUF) et un circuit d'essai en ligne ou incorporé, ledit circuit d'essai en ligne comprenant une ou plusieurs partie(s) de circuit qui est/sont physiquement adjacente(s) à ladite PUF et ledit ou lesdits circuit(s) incorporant un ou plusieurs essai(s) qui peut/peuvent être réalisé(s) pour déterminer une ou plusieurs propriété(s) de qualité de ladite PUF ou autrement la caractériser. Différents essais ayant des étapes de procédé associé spécifiques sont décrits.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧洲专利局 (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)
也发表为:
KR1020180050276US20180183613CN108028757