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1. (WO2015185538) DETERMINING QUANTITATIVE THREE-DIMENSIONAL SURFACE TOPOGRAPHY FROM TWO-DIMENSIONAL MICROSCOPY IMAGES
国际局存档的最新著录项目数据   

公布号: WO/2015/185538 国际申请号: PCT/EP2015/062231
公布日: 10.12.2015 国际申请日: 02.06.2015
国际专利分类:
G06T 7/00 (2006.01)
G PHYSICS
06
计算;推算;计数
T
一般的图像数据处理或产生
7
图像分析,例如从位像到非位像
申请人:
RIJKSUNIVERSITEIT GRONINGEN [NL/NL]; Broerstraat 5 NL-9712 CP Groningen, NL
发明人:
MARTÍNEZ MARTÍNEZ, Diego; NL
OCELIK, Vaclav; NL
DE HOSSON, Josephus Theodorus Maria; NL
MANSILLA SANCHEZ, Catalina; NL
FABER, Enne Theodoor; NL
代理人:
JANSEN, C.M.; NL
优先权数据:
14170815.602.06.2014EP
标题 (EN) DETERMINING QUANTITATIVE THREE-DIMENSIONAL SURFACE TOPOGRAPHY FROM TWO-DIMENSIONAL MICROSCOPY IMAGES
(FR) DÉTERMINATION DE TOPOGRAPHIE DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE QUANTITATIVE À PARTIR D'IMAGES MICROSCOPIQUES BIDIMENSIONNELLES
摘要:
(EN) Sets of displacements of corresponding points between a first image and a second and third image are determined. Directional components in two directions of each set of displacements are fitted to two respective fitting planes. From the directional components, the relative displacements, each indicating a difference between the displacement of corresponding points and a calculated displacement of corresponding points on the respective fitting plane are calculated. An orientation of a sample plane for each image and the angle and the axis of rotation of the sample plane is calculated by requiring that for at least two types of physical parameters, the value resulting from the first set of displacements is identical to the value resulting from the second set of displacements. Three-dimensional surface topography data are determined from the calculated orientations and the angle and axis of rotation of the sample plane and the first or second relative displacements.
(FR) La présente invention concerne des ensembles de déplacements de points correspondants entre une première image et une deuxième et une troisième image. Des composantes directionnelles dans deux directions de chaque ensemble de déplacements sont ajustées à deux plans d'ajustement respectifs. À partir des composantes directionnelles, les déplacements relatifs, chacun indiquant une différence entre le déplacement de points correspondants et un déplacement calculé de points correspondants sur le plan d'ajustement respectif sont calculés. Une orientation d'un plan d'échantillon pour chaque image et l'angle et l'axe de rotation du plan d'échantillon est calculée en demandant que, pour au moins deux types de paramètres physiques, la valeur obtenue à partir du premier ensemble de déplacements soit identique à la valeur obtenue à partir du second ensemble de déplacements. Des données de topographie de surface tridimensionnelles sont déterminées à partir des orientations calculées et de l'angle et de l'axe de rotation du plan d'échantillon et du premier ou du second déplacement relatif.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
非洲地区知识产权组织 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
欧亚专利局 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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非洲知识产权组织 (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)