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1. (WO1997016922) IMAGING SYSTEM
国际局存档的最新著录项目数据

公布号: WO/1997/016922 国际申请号: PCT/US1996/017505
公布日: 09.05.1997 国际申请日: 30.10.1996
第2章国际初步审查要求书已提交: 22.05.1997
国际专利分类:
G02B 21/00 (2006.01)
G PHYSICS
02
光学
B
光学元件、系统或仪器
21
显微镜
申请人:
GRAVELY, Benjamin, T. [US/US]; US
发明人:
GRAVELY, Benjamin, T.; US
代理人:
ROSENTHAL, Robert, G.; Rosenthal & Putterman 5856 Faringdon Place Raleigh, NC 27609, US
优先权数据:
60/007,08631.10.1995US
标题 (EN) IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE
摘要:
(EN) An imaging system operates at the diffraction limit of the optics to which it is connected and outputs a signal representative of a sample (S) lying in the sample plane (17). The system comprises a cathode ray tube (30), an optical lens system (10'), and a means for sensing (40). The cathode ray tube (30) comprises an electron gun (34) for generating an electron beam (35) in a raster pattern. The electron beam (35) is adapted to produce an illuminated spot (39a) that scans correspondingly in the raster pattern and wherein the spot (39a) is positioned in an object plane (26). The optical lens system (10') focuses in a diffraction limited manner, the object plane (26) on to the sample plane (17), such that the image of the spot (39b) is the smallest diffraction limited size as determined by the optical lens system (10').
(FR) Un système d'imagerie fonctionne à la limite de diffraction de l'optique sur laquelle il est connecté et produit un signal de sortie repésentant un échantillon (S) se trouvant dans le plan (17) de l'échantillon. Le système comprend un tube à rayon cathodique (30), un système à lentille optique (10') et un dispositif de détection (40). Le tube à rayon cathodique (30) comprend un canon à électrons (34) qui génère un faisceau d'électrons (35) suivant une configuration de trame. Le faisceau d'électrons (35) est adapté pour produire un point ou spot éclairé (39A) qui balaie de manière correspondante la configuration de trame, le spot (39a) étant positionné dans un plan d'objet (26). Le système à lentille optique (10') focalise de manière limitée en diffraction le plan d'objet (26) sur le plan d'échantillon (17), de sorte que l'image du spot (39b) ait la taille limitée en diffraction la plus petite, comme déterminée par le système à lentille optique (10').
指定国: AU, CA, JP
欧洲专利局 (EPO) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
公布语言: 英语 (EN)
申请语言: 英语 (EN)
也发表为:
EP0858708JP2000500881CA2234950AU1996075294