Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2019067724) THICK ALKALI METAL HALIDE PEROVSKITE FILMS FOR LOW DOSE FLAT PANEL X-RAY IMAGERS
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюроОтправить комментарий

№ публикации: WO/2019/067724 № международной заявки: PCT/US2018/053131
Дата публикации: 04.04.2019 Дата международной подачи: 27.09.2018
МПК:
G01T 1/00 (2006.01) ,G01T 1/16 (2006.01) ,G01T 1/24 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
T
Измерение ядерных излучений или рентгеновских лучей
1
Измерение рентгеновского излучения, гамма-излучения, корпускулярного и космического излучений
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
T
Измерение ядерных излучений или рентгеновских лучей
1
Измерение рентгеновского излучения, гамма-излучения, корпускулярного и космического излучений
16
измерение интенсивности излучения
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
T
Измерение ядерных излучений или рентгеновских лучей
1
Измерение рентгеновского излучения, гамма-излучения, корпускулярного и космического излучений
16
измерение интенсивности излучения
24
с помощью полупроводниковых детекторов
Заявители:
NORTHWESTERN UNIVERSITY [US/US]; 633 Clark Street Evanston, Illinois 60208, US
Изобретатели:
KANATZIDIS, Mercouri G.; US
XU, Yadong; US
Агент:
MANNING, Michelle; US
BELL, Callie M.; US
POREMBSKI, N. Meredith; US
KALAFUT, Christopher L.; US
Дата приоритета:
62/565,35829.09.2017US
Название (EN) THICK ALKALI METAL HALIDE PEROVSKITE FILMS FOR LOW DOSE FLAT PANEL X-RAY IMAGERS
(FR) FILMS DE PÉROVSKITE À HALOGÉNURE DE MÉTAL ALCALIN ÉPAIS POUR IMAGEURS À RAYONS X À ÉCRAN PLAT À FAIBLE DOSE
Реферат:
(EN) Methods and devices that use alkali metal chalcohalides having the chemical formula A2TeX6, wherein A is Cs or Rb and X is I or Br, to convert hard radiation, such as X-rays, gamma-rays, and/or alpha-particles, into an electric signal are provided. The devices include optoelectronic and photonic devices, such as photodetectors and photodiodes. The method includes exposing the alkali metal chalcohalide material to incident radiation, wherein the material absorbs the incident radiation and electron-hole pairs are generated in the material. A detector is configured to measure a signal generated by the electron-hole pairs that are formed when the material is exposed to incident radiation.
(FR) L'invention concerne des procédés et des dispositifs utilisant des chalcohalides de métal alcalin possédant la formule chimique A2TeX6, A correspondant à du Cs ou du Rb et X correspondant à du I ou du Br, afin de convertir un rayonnement dur, tel que des rayons X, des rayons gamma et/ou des particules alpha, en un signal électrique. Les dispositifs comprennent des dispositifs optoélectroniques et photoniques, tels que des photodétecteurs et des photodiodes. Le procédé comprend l'exposition du matériau de chalcohalides de métal alcalin à un rayonnement incident, le matériau absorbant le rayonnement incident et des paires électron-trou étant générées dans le matériau. Un détecteur est conçu pour mesurer un signal généré par les paires électron-trou formées lorsque le matériau est exposé au rayonnement incident.
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийское патентное ведомство (ЕАПВ) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Английский (EN)
Язык подачи: Английский (EN)